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논문 상세정보

Bit Error Rate Measurement of an RSFQ Toggle Flip-Flop

Bit Error Rate Measurement of an RSFQ Toggle Flip-Flop

Journal of the Korean Physical Society v.48 no.5I , 2006년, pp.1008 - 1011  
Sehoon Kim, Jinyoung Kim, 강준희
초록

The problem of fluctuation-induced digital bit errors in a rapid single flux quantum (RSFQ) circuit has been a very important issue. In this work, we measured the bit error rate of an RSFQ toggle Flip-flop (T-FF) that was designed to use in a programmable counter. An RSFQ T-FF should have a very low error rate at optimal bias, and the theoretical estimates of the RSFQ error rate are on the order of 10.40 per bit operation. In this experiment, we prepared two identical circuits in parallel. Each circuit was composed of 10 Josephson transmission lines (JTLs) connected in series with an RSFQ T-FF placed in the middle of the 10 JTLs. We used a splitter to feed the same input signal to both circuits. The outputs of the two circuits were compared with that of an RSFQ exclusive OR (XOR) to measure the bit error rate of the RSFQ T-FF. By using a computerized bit error rate test setup, we measured a bit error rate of 8.46 × 10.13 when the bias current to the RSFQ T-FF was 0.37 mA, quite off from the optimum bias current of 0.47 mA. We also measured a bit error rate of 3.05 × 10.12 when the bias current to the RSFQ T-FF was 0.57 mA, quite off from the optimum bias current of 0.47 mA.

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