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NTIS 바로가기A common failure mechanism in bulk CMOS integrated circuits is due to the latch-up of the parasitic SCR structure which is inherent from the bulk CMOS structure. Latch-up triggering and holding characteristics have been measured in test devices which include conventional and Schottky-clamped CMOS st...
저자 | Koh, Yo-Hwan |
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학위수여기관 | 한국과학기술원 |
학위구분 | 국내석사 |
학과 | 전기 및 전자공학과 |
발행연도 | 1985 |
총페이지 | [ii], 59 p. |
키워드 | Integrated circuits Thyristors CMOS 사이리스터 래치업 집적 회로 Metal oxide semiconductors, complementary |
언어 | kor |
원문 URL | http://www.riss.kr/link?id=T10510798&outLink=K |
정보원 | 한국교육학술정보원 |
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