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NTIS 바로가기The measuring uncertainty requirements of digital imaging systems have aleady become few tens of nanometers in some areas, and expected to be as small as few nanometers in near future. This stringent requirement of uncertainty can hardly be achieved unless the measuring uncertainty is predicted and ...
저자 | 이상윤 |
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학위수여기관 | 한국과학기술원 |
학위구분 | 국내박사 |
학과 | 기계공학과 |
지도교수 | 김승우,Kim, Seung-Woo |
발행연도 | 1998 |
총페이지 | viii, 113 p. |
키워드 | Measuring uncertainty Digital imaging Dimensional metrology Edge detection 측정 불확도 영상 형상 측정 에지 검출 |
언어 | kor |
원문 URL | http://www.riss.kr/link?id=T10513448&outLink=K |
정보원 | 한국교육학술정보원 |
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