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NTIS 바로가기電子工學會論文誌. Jounnal of the Korea institute of telematics and electronics. A. A, v.31A no.1, 1994년, pp.93 - 102
천병식 (삼성전자 반도체부문 제품개발센타 CAE그룹) , 최창훈 (삼성전자 반도체부문 제품개발센타 CAE그룹) , 김경호 (삼성전자 반도체부문 제품개발센타 CAE그룹)
This paper, presents SECRET(SEC REliability Tool), which predicts reliability problems related to the hot-carrier and electromigration effects on the submicron MOSFETs and interconnections. To simulate DC and AC lifetime for hot-carrier damaged devices, we have developed an accurate substrate curren...
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