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NTIS 바로가기電子工學會論文誌. Jounnal of the Korea institute of telematics and electronics. A. A, v.31A no.4, 1994년, pp.116 - 126
정금섭 (대우전자 산전연구소) , 전흥우 (금오공과대학교 전자공학과)
In this paper, the switch-level fault simulator for CMOS circuits with a gate-to-drain/source short fault is implemented. A fault model used in this paper is based on the graphical analysis of the electrical characteristics of the faulty MOS devices and the conversion of the faulty CMOS circuit to t...
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