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NTIS 바로가기한국결정성장학회지 = Journal of the Korean crystal growth and crystal technology, v.5 no.4, 1995년, pp.408 - 413
조상희 (경북대학교 무기재료공학과) , 최치영 ((주)LG 실트론 부설 연구소) , 조기현 ((주) LG 실트론 부설 연구소)
We investigated the effect of mechanical backside damage upon minority carrier recombination lifetime measurement in Czochralski silicon substrate by laser excitation/microwave reflection photoconductance decay method. The intensity of mechanical damage was evaluated by X-ray double crystal rocking ...
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