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NTIS 바로가기電子工學會論文誌. Journal of the Korean Institute of Telematics and Electronics. C, v.34C no.8, 1997년, pp.49 - 63
김정범 (현대전자산업주식회사 시스템 IC 연구소 DT개발실) , 홍성제 (포항공과대학교 전자계산학과) , 김종 (포항공과대학교 전자계산학과)
This paper presents a current sensor that detects defects in CMOS integrated circuits using the current testing technique. The current sensor is built in a CMOS integrated circuit to test an abnormal current. The proposed circuit has a very small impact on the performance of the circuit under test d...
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