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NTIS 바로가기韓國電磁波學會論文誌 = The journal of Korean Institute of Electromagnetic Engineering and Science, v.11 no.2 = no.44, 2000년, pp.234 - 241
정삼영 (전파연구소 EMC 연구실) , 이중근 (한양대학교 전자공학과 EMI)
During the EFT immunity test, the fast transient voltage is injected to the power or signal line. The radiated noise from these lines influences the near-by EUT, and consequently, the reliability of the test result can be jeopardized. The measured data of the field strength and wave shape of the noi...
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