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NTIS 바로가기電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. SD, 반도체, v.38 no.4 = no.286, 2001년, pp.292 - 301
배성환 (한려대학교 멀티미디어정보통신공학과) , 김관웅 (전북대학교 전자공학과) , 전병실 (전북대학교 전자공학과)
IDDQ Testing is a very effective testing method to detect many kinds of physical defects occurred in CMOS VLSI circuits. In this paper, we consider the most commonly occurring bridging faults in current CMOS technologies and develop pattern generator for IDDQ testing using efficient IDDQ test algori...
R. Rajsuman, IDDQ Testing for CMOS VLSI, Artech House, 1994
J. A. Abraham, 'Challenges in fault detection,' International Symposium on Fault-Tolerant Computing, pp. 96-114, 1995
전병실 외, '기능테스트와 IDDQ 테스트를 위한 자체 점검 BIST 회로의 설계,' 서울대학교 반도체공동연구소 연구보고서, 1998
P. J. Thadikaran, 'Evaluation selection and generation of IDDQ tests,' PHD. Thesis. Department of Computer Science, State University of New York, 1996
T. Shinogi and T. Hayashi, 'An iterative improvement method for generating compact tests for IDDQ testing of bridging faults,' IEICE Trans. INF & SYST., vol. E81-D. no. 7, July 1998
S. Chakravarty and P. J. Thadikaran, 'Simulation and generation of IDDQ tests for bridging faults in combinational circuit,' IEEE Trans. Computers, vol. 45, no. 10, pp. 1131-1140, Oct. 1996
전병실 외, '합성고장을 위한 IDDQ 테스트 패턴 발생기의 구현,' 한국통신학회논문지, vol. 24, no. 12-A, pp. 2008-2014, 1999
U. Mahlstedt, et al., 'Test generation for IDDQ testing and leakage fault detection in CMOS circuits,' European DAC, pp. 486-491, Sep. 1992
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