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화학기계적연마 공정에서 미소 스크래치 저발생화를 위한 가공기술 연구
Study on Chemical Mechanical Polishing for Reduction of Micro-Scratch 원문보기

한국정밀공학회지 = Journal of the Korean Society for Precision Engineering, v.19 no.8 = no.137, 2002년, pp.134 - 140  

김성준 (한양대학교 대학원 정밀기계공학과) ,  안유민 (한양대학교 기계공학과) ,  백창욱 (서울대학교 전기컴퓨터공학부) ,  김용권 (서울대학교 전기컴퓨터공학부)

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Chemical mechanical polishing of aluminum and photoresist using colloidal silica-based slurry was experimented. The effects of slurry pH, silica concentration, and oxidizer ($H_2O_2$) concentration on surface roughness and removal rate were studied. The optimum slurry conditions for reduc...

주제어

참고문헌 (12)

  1. Kim, H.-G., Ahn, Y., Moon, D.-K., and Park, J.-G., 'Effect of Chemicals and Slurry Particles on Chemical Mechanical Polishing of Polyimide,' Jpn. J. Appl. Phys., Vol. 39, pp. 1085-1090, 2000 

  2. 조웅, 안유민, 백창욱, 김용권, '알루미늄 박막의 화학기계적연마 가공에 관한 연구,' 한국정밀공학회지, 제 19 권, 제 2 호, pp. 49-57 

  3. Sniegowski, J.J., 'Chemical-Mechanical Polishing:Enchancing the Manufacturability of MEMS,' SPIE Proceedings, Vol. 2879, pp. 104-115, 1996 

  4. Steigerwald, J.M., Murarka, S.P., and Gutmann, R.J., 'Chemical Mechanical Planarization of Microelectronic Materials,' John Wiley and Sons, pp. 39 and 281, 1997 

  5. Peters, L., 'Investigating the Causing of CMP Micro-Scratches,' Semiconductor International, Vol. 22, No. 6, p. 70, 1999 

  6. Basim, G.B., Adler, J.J., Mahajan, U., Singh, R.K., and Moudgil, B.M., 'Effect of Particle Size of Chemical Mechanical Polishing Slurries for Enhanced Polishing with Minimal Defects,' J. Electrochem. Soc., Vol. 147, No. 9, pp. 3523-3528, 2000 

  7. Kallingal, C.G., Duquette, D.J., and Murarka, S.P., 'An Investigation of Slurry Chemistry Used in Chemical Mechanical Planarization of Aluminum,' J. Electrochem. Soc., Vol. 145, No. 6, pp. 2074-2081, 1998 

  8. Zhong, L., Yang, J., Holland, K., Grillaert, J., Devriend, K., Heylen, N., and Meuris, M., 'A Static Model for Scratches Generated during Aluminum Chemical-Mechanical Polishing Process : Orbital Technology,' Jpn. J. Appl. Phys. Vol. 38, pp. 1932-1938, 1999 

  9. Hara, T., Tomisawa, T., Kurosu, T., and Doy, T.K., 'Chemical Mechanical Polishing of Polyarylether Low Dielectric Constant Layers by Manganese Oxide Slurry,' J. Electrochem. Soc., Vol. 146, No. 6, pp. 2333-2336, 1999 

  10. Kondo, S., Sakuma, N., Homma, Y., Goto, Y., Ohashi, N., Yamaguchi, H., and Owada, N., 'Abrasive-Free Polishing for Copper Damascene Interconnectiion,' J. Electrochem. Soc., Vol. 147, No. 10, pp. 3907-3913, 2000 

  11. Bulsara, V.H., Ahn, Y., Chandrasekar, S., and Farris, T.N., 'Mechanics of Polishing,' ASME Journal of Applied Mechanics, Vol. 65, pp. 410-416, 1998 

  12. Yu, C.C., Doan, T.T., and Laulusa, A.E., 'Method of Chemical Mechanical Polishing Aluminum Containing Metal Layers and Slurry for Chemical Mechanical Polishing,' US Patent, 5209816, 1993 

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