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TEM 관련 이론해설 (1): 프레넬 회절과 프라운호퍼 회절

Fresnel Diffraction and Fraunhoffer Diffraction

초록

회절 현상의 기초가 되는 호이겐스 원리로부터 키르히호프 공식을 유도하고 이어 이를 응용한 프레넬 회절과 프라운호퍼 회절에 대한 수학적인 도출을 소개하였다. 프레넬 회절은 후에 CTEM 영상 이론에 기반이 되고 프라운호퍼 회절은 수학적으로 Fourier 변환을 나타내어 전자회절 패턴이론과 HRTEM 영상이론에 기반을 이루게 된다. 다른 각도에서 개발된 Born 시리즈에 의한 산란 현상에 관한 이론도 소개하였다. 본회에서 소개된 이론은 후에 소개될 이론의 기반이 되면서 자주 사용되므로 일반물리학에서 많이 소개되고 있는 회절 현상에 대하여 이 기회에 이론적인 실력을 단단히 쌓았으면 한다.

Abstract

In this review, the author discussed how the Fresnel and Fraunhoffer Diffraction can be deduced from the Huygens-Fresnel principle and Kirchhoff Diffraction Theory. Fresnel diffraction became the basic theory of the CTEM image theory, and Fraunhoffer diffraction became the base for electron diffraction and HRTEM image theory by Fourier transformation. The author also discussed the diffraction based on Born series.

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참고문헌 (7)

  1. Buseck P, Cowley J, Eyring L, High Resolution Transmission Electron Microscopy and Associated Techniques. Oxford University Press, Oxford, 1988 
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  4. Heidenreich RD: Fundamentals of Transmission Electron Microscopy. Interscience Publishers, New York, 1964 
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  6. Spence JCH: Experimental High Resolution Electron Microscopy. Oxford University Press, Oxford, 1981 
  7. Young HD: University Physics. Dae-woong Publishing Co., Seoul, Chapter 37, p. 997, 1996 

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