$\require{mediawiki-texvc}$

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

TEM 관련 이론해설 (2): Fourier 변환
Fourier Transformations 원문보기

한국전자현미경학회지 = Korean journal of electron microscopy, v.32 no.3, 2002년, pp.195 - 204  

이확주 (한국표준과학연구원 물질량 표준부)

초록
AI-Helper 아이콘AI-Helper

TEM 이론의 기초가 되는 델타함수, 콘볼루션 적분, 퓨리에 변환에 관한 개념을 소개하고 이에 대한 응용으로 슬릿함수, 현저한 폭을 갖는 2개의 슬릿, 유한 크기의 파동 train, 좁은 슬릿의 주기적인 배열, 임의의 주기 함수, diffraction grating, 회절 격자, 그리고 gaussian 함수에서의 퓨리에 변환에 관한 수학적인 방법의 적용을 소개하였다.

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

In this review, the fundamental concepts of delta function, convolution integral and Fourier transformation are discussed. The applications of Fourier transformation to slit function, two very narrow slits, two slits of appreciable width, periodic array of narrow slits, arbitary periodic function, d...

주제어

참고문헌 (5)

  1. Buseck P, Cowley J, Eyring L: High Resolution Transmission Electron Microscopy and Associated Techniques, Oxford Univ Press, Oxford, 1988 

  2. Cowley JM: Diffraction Physics, North-Holland Publishing Co., Amsterdam, 1981 

  3. Greenberg MD: Foundations of Applied Mathmatics, Prentice-Hall, 1978 

  4. Hirsch P, Howie A, Nicholson RB, Pashley DW, Whelan MJ: Electron Microscopy of Thin Crystals, Krieger Publishing Co., 1977 

  5. Spence JCH: Experimental High Resolution Electron Microscopy, Oxford Univ Press, Oxford, 1981 

저자의 다른 논문 :

섹션별 컨텐츠 바로가기

AI-Helper ※ AI-Helper는 오픈소스 모델을 사용합니다.

AI-Helper 아이콘
AI-Helper
안녕하세요, AI-Helper입니다. 좌측 "선택된 텍스트"에서 텍스트를 선택하여 요약, 번역, 용어설명을 실행하세요.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.

선택된 텍스트

맨위로