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NTIS 바로가기한국전자현미경학회지 = Korean journal of electron microscopy, v.32 no.3, 2002년, pp.195 - 204
In this review, the fundamental concepts of delta function, convolution integral and Fourier transformation are discussed. The applications of Fourier transformation to slit function, two very narrow slits, two slits of appreciable width, periodic array of narrow slits, arbitary periodic function, d...
Buseck P, Cowley J, Eyring L: High Resolution Transmission Electron Microscopy and Associated Techniques, Oxford Univ Press, Oxford, 1988
Cowley JM: Diffraction Physics, North-Holland Publishing Co., Amsterdam, 1981
Greenberg MD: Foundations of Applied Mathmatics, Prentice-Hall, 1978
Hirsch P, Howie A, Nicholson RB, Pashley DW, Whelan MJ: Electron Microscopy of Thin Crystals, Krieger Publishing Co., 1977
Spence JCH: Experimental High Resolution Electron Microscopy, Oxford Univ Press, Oxford, 1981
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