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NTIS 바로가기한국재료학회지 = Korean journal of materials research, v.15 no.1, 2005년, pp.54 - 60
홍원식 (전자부품연구원 신뢰성평가센터, 한국항공대학교 항공재료공학과) , 강보철 (전자부품연구원 신뢰성평가센터) , 송병석 (전자부품연구원 신뢰성평가센터) , 김광배 (한국항공대학교 항공재료공학과)
Recently a lots of problems have observed in high densified and high integrated electronic components. One of them is ion migration phenomena, which induce the electrical short of electrical circuit. ion migration phenomena has been observed in the field of exposing the specific environment and usin...
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The Institute for Interconnecting and Packaging Electronic Circuit, IPC-TR-476A Electrochemical Migration (1997)
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