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시간-주파수 반사파 계측 방법을 이용한 전송선로의 결함 위치 추정
Estimation of Fault Location on a Transmission Line via Time-Frequency Domain Reflectometry 원문보기

전기학회논문지. The transactions of the Korean Institute of Electrical Engineers. D / D, 시스템 및 제어부문, v.54 no.9, 2005년, pp.521 - 530  

최덕선 (연세대 공대 전기전자공학과) ,  곽기석 (연세대 공대 전기전자공학과) ,  윤태성 (창원대 공대 전기공학과) ,  박진배 (연세대 공대 전기전자공학과)

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In this paper, a new high resolution reflectometry scheme, time-frequency domain reflectometry(TFDR), isproposed to detect and estimate a fault in a transmission line. Traditional reflectometry methodologies have been achieved either in the time domain or in the frequency domain only. However, the T...

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문제 정의

  • 시간-주파수 영역 반사파 계측 방법은 시간과 주파수 영역에서 동시에 분석하기 위해 기존의 시간 영역 반사파 계측 방법이나 주파수 영역 반사파 계측 방법에 사용되는 펄스 또는 스텝 신호는 일정한 주파수 대역을 가지는 정현파를 사용 하지 않고 독특한 기준 신호를 사용한다. 본 논문에서는 기 준 신호가 주파수 영역에서 일정한 대역을 가지기 위해 시간에 따라 주파수가 일정하게 증가하는 첩 (chirp) 신호를 사용 하며 시간과 주파수 영역에서 동시에 지역화하기 위해 가우 시안 포락선을 변조한다. 기준 신호를 수식으로 나타내면 식 (1) 과 같다[14].
  • 또한, 이러한 기준 신호를 대상 전송선로에 인가했을 때 되돌아오는 반사 신호를 시간과 주파수 영역에서 동시에 분석하기 위해 위그너 시간-주파수 분포 함수 (Wigner Time-Frequency Distribution Function)와 정규화된 시간-주파수 상호 상관 함수(Normalized Time-Frequency Cross Correlation Function)를 사용한 알고리즘을 제안하여 대상 전송선로의 결함 유무와 결함 위치를 계산한다. 본 논문에서는 제안된 기준 신호와 알고리즘은 실제 계측기들을 이용하여 구현된 시간-주파수 영역 반사파 계측 시스템과 전송선로 중에서 배선에 많이 쓰이는 실제 동축 케이블을 이용한 실험을 통해 검증하고자 한다.
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참고문헌 (16)

  1. 'Review of Federal programs for wire system safety,' White House NSTC, Washington, DC, 2000 

  2. Furse, C., You Chung Chung, Dangel, R., Nielsen, M., Mabey, G., Woodward, R.,'Frequency-domain reflectometry for on-board testing of aging aircraft wiring, 'IEEE Transaction on Electromagnetic Compatibility, Volume: 45, Issue: 2, Pages: 306-315, May 2003 

  3. Byun, D.O., Shin, H. T., Kim, W. J. Shin, J. Y, Hong, J. W.,'Insulation deterioration diagnosis on ultra high voltage power cables, 'Properties and Applications of Dielectric Materials, 2003. Proceedings of the 7th International Conference on, Volume: 1, Pages: 179-182, June 1-5, 2003 

  4. Chiou-Shiun Chen, Louis E. Roemer, Michael S. Hostetler, 'Cepstral Processing Using Spread Spectra for Cable Diagnostics,' IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, Volume: IM-30(1), Pages: 31-38, March 1973 

  5. Mackay, N. A., Penstone, S. R, 'High-sensitivity narrow-band time domain reflectometer, 'IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement.Volume: IM-23, Pages: 155-158, June 1974 

  6. Sasaki, O., Taniguchi, T., Ohska, T.K., Kurashige, H., 'A high resolution TDC in TKO box system,' IEEE Transactions on Nuclear Science, Volume: 35, Issue: 1, Pages: 342-347, Feb. 1988 

  7. Stoica, P., Moses, R.L., Friedlander, B., Soderstrom, T.,'Maximum likelihood estimation of the parameters of multiple sinusoids from noisy measurements,' IEEE Transactions on Signal Processing, Volume: 37, Issue: 3, Pages: 378-392, March 1989 

  8. Yamada, H., Ohmiya, M., Ogawa, Y., Itoh, K., 'Superresolution techniques for time-domain measurements with a network analyzer,' Antennas and IEEE Transactions on Propagation, Volume: 39, Issue: 2, Pages: 177-183, Feb. 1991 

  9. Van Hamme, H., 'Maximum likelihood estimation of superimposed complex sinusoids in white Gaussian noise by reduced effort coarse search (RECS),' IEEE Transactions on Signal Processing, Volume: 39, Issue: 2, Pages: 536-538, Feb. 1991 

  10. Van Hamme, H., 'High-resolution frequency-domain reflectometry by estimation of modulated superimposed complex sinusoids,' IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, Volume: 41, Issue: 6, Pages: 762-767, Dec. 1992 

  11. Agrez, D., 'Approximation of the skin effect to improve cable-fault location by TDR,' Instrumentation and Measurement Technology Conference 2003, Proceedings of the 20th IEEE, Volume: 1, Pages: 50-53, May 20-22, 2003 

  12. Hewlett Packard, 'Time Domain Reflectometry,' Hewlett Packard, 1998 

  13. Site Master, 'Transmission Line and Antenna Analyzer: Datasheet', Anritsu, April 2000 

  14. Leon Cohen. 'Time-Frequency Analysis,'Prentice Hall, New York, 1995 

  15. Shin, Y. J., Song, E. S., Kim, J. W., Park, J. B, Yook, J. G., Powers, E. J.,'Time-frequency domain reflectometry for smart wiring systems,' Advanced Signal Processing Algorithms, Architectures, and Implementation XII, Proceedings of SPIE Volume: 4791, Pages: 86-95, Dec. 2002 

  16. Shin, Y J., Powers, E. J., Choe, T. S., Sung, S. H, Yook, J. G., Park, J. B., 'Evaluation of the Load Impedance in Coaxial Cable via Time-Frequency Domain Reflectometry,' Advanced Signal Processing Algorithms, Architectures, and Implementations XIII, Proceedings of SPIE, Vol. 5205, p. 38-46, Dec. 2003 

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