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CMOS 집적회로 테스팅을 위한 내장형 전류 감지 회로 설계

Design of a Built-In Current Sensor for CMOS IC Testing

전기전자학회논문지 = Journal of IKEEE, v.9 no.1 = no.16, 2005년, pp.57 - 64  

김태상 (강원대학교 전기전자정보통신공학부) ,  홍승호 (강원대학교 전기전자정보통신공학부) ,  곽철호 (충남대학교 정보통신공학부) ,  김정범 (강원대학교 전기전자정보통신공학부)

초록
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본 논문에서는 전류 테스팅을 이용하여 CMOS 집적회로에 존재하는 결함을 검출하는 내장형 전류 감지회로를 설계하였다. 이 회로는 일반적인 CMOS 공정으로 구현하였으며 결함전류와 기준전류를 전압으로 변환시켜 시험대상 회로의 결함을 고속으로 검출하며, 미세공정에도 적용가능한 회로이다 제안한 전류 감지회로는 전류원 내장으로 인한 추가적인 전력소모를 문제를 해결하였다. 제안한 회로의 정당성 및 효율성은 HSPICE를 이용한 시뮬레이션으로 그 타당성을 입증하였다. 제안한 전류 감지회로가 칩의 전체 면적에서 차지하는 면적소모는 시험대상회로에서 약 9.2%로, 내장형 전류 감지회로에 의한 면적소모는 무시할 만 하다. 제안한 회로는 Hynix O.35um 2-poly 4-metal N-Well 표준 CMOS 공정으로 제작하였다.

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

This paper presents a built-in current sensor(BICS) that detects defects in CMOS integrated circuits using the current testing technique. This circuit employs a cross-coupled connected PMOS transistors, it is used as a current comparator. The proposed circuit has a negligible impact on the performan...

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