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NTIS 바로가기전기전자학회논문지 = Journal of IKEEE, v.9 no.1 = no.16, 2005년, pp.57 - 64
김태상 (강원대학교 전기전자정보통신공학부) , 홍승호 (강원대학교 전기전자정보통신공학부) , 곽철호 (충남대학교 정보통신공학부) , 김정범 (강원대학교 전기전자정보통신공학부)
This paper presents a built-in current sensor(BICS) that detects defects in CMOS integrated circuits using the current testing technique. This circuit employs a cross-coupled connected PMOS transistors, it is used as a current comparator. The proposed circuit has a negligible impact on the performan...
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