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논문 상세정보

파장판를 이용한 스펙클패턴 전단간섭법에 있어서의 위상오차 해석

Phase Error Analysis in Shearography Using Wave Plates

초록

본 논문에서는 Wollaston 프리즘을 이용한 스펙클패턴 전단간섭법(shearography)에서 수동소자인 두 개의 파장판과 편광판의 조합을 통해 각각 90도의 위상천이를 가지는 4개의 스펙클 패턴을 얻고, 이로부터 스펙클패턴의 각 지점에서의 위상을 얻을 수 있는 방법을 제시하였다. 제안된 방법에 사용되는 파장판에 의한 위상오차를 Jones 행렬을 이용하여 분석하였다.

Abstract

We presented the method to obtain four speckle patterns with relative phase shift of ${\pi}/2$ by passive devices such as wave plate and polarizer, and calculate the phase at each point of the speckle pattern in shearography using Wollaston prism. And, we analyzed the phase error caused by wave plates used in the proposed method by Jones matrix.

저자의 다른 논문

참고문헌 (12)

  1. J.A. Leendertz and J.N. Butters, 'An image-shearing speckle-pattern interferometer for measuring bending moments,' J. Phys. E. vol. 6, pp. 1107-1110, 1973 
  2. Y.Y. Hung, 'Shearography, a new optical method for strain measurement and nondestructive testing,' Opt. Eng. vol. 21, no.3, pp. 391-395, 1982 
  3. W. Steinchen, 'Quality control of fiber-reinforced composites by means the shearographic and holographic method,' Proc. SPIE vol. 1756, 1992 
  4. S.L. Tol, F.S. Chau, V.P.W. Shim, C.J. Tay, and H.M. Shang, 'Application of shearography in nondestructive testing of composite plates,' J. Mater. Process. Technol. vol. 23, pp. 267-275, 1990 
  5. W. Steinchen, L.X. Yang, M. Schuth, G. Kupfer, 'Application of shearography to quality assurace,' J. Mater. Process. Technol. vol. 52, no.1, pp. 141-150, 1992 
  6. F.S. Chau and T.W. Ng, 'A real-time digital shearing speckle interferometer,' Measure. Sci. Technol., vol. 3, pp. 381-383, 1992 
  7. Y. Y. Hung, 'A phase shift technique for automation of phase determination in digital shearography,' Proc. 1994 SEM spring Conf., Baltimore, MD, 6-7 June 1994, pp. 233-240 
  8. W. Steinchen and L. Yang, Digital shearography, SPIE Press, 2003 
  9. Y.Y. Hung, 'Shearography fo non-destructive evaluation of composite structures,' Optics and Lasers in Engineering vol. 24, pp. 161-182, 1996 
  10. V.M. Murukeshan, O. L. Seng, and A. Asundi, 'Polarization phase shifting shearography for optical metrological applications,' Optics & Laser Technology vol. 30, pp. 527-531, 1998 
  11. A. Yariv and P. Yeh, Optical Waves in Crystals(Wiley, New York, 1984), Chap. 5 
  12. S. Dilhaire, S. Jorez, A. Cornet, L.D. Patino Lopez, W. Claeys, 'Measurement of the thermomechnical strain of electronic devices by shearography,' Microelectronics Reliability vol. 40, pp. 1509-1514, 2000 

이 논문을 인용한 문헌 (1)

  1. Kim, Soo-Gil ; Lee, Jun-Ho 2006. "A Defect Diagnosis of Polymer Specimen using Shearography" 照明·電氣設備學會論文誌 = Journal of the Korean Institute of Illuminating and Electrical Installation Engineers, 20(8): 1~5 

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