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논문 상세정보

초록

Advanced Microcontroller Bus Architecture (AMBA) 기반 System-on-Chip (SoC)에서는 기능적 테스트를 위해 ARM사의 Test Interface Controller (TIC)를 사용한다. 따라서 구조적 스캔 테스트 패턴도 TIC와 AMBA 버스를 통해 인가하면서 스캔입력과 출력을 동시에 수행할 수 없다는 단점이 있다. 본 논문에서는 ARM 코어를 사용하는 SoC 테스트를 위한 AMBA based Test Access Mechanism (ATAM)을 제안한다. 기존 TIC와의 호환성을 유지하고 스캔 입력과 출력을 동시에 할 수 있으므로 고가의 Automatic Test Equipment (ATE)를 통한 테스트 시간을 대폭 절감할 수 있다.

Abstract

Test Interface Controller (TIC) provided by ARM Ltd. is widely used for functional testing of System-on-Chip (SoC) adopting Advanced Microcontroller Bus Architecture (AMBA) bus system. Accordingly, this architecture has a deficiency of not being able to concurrently shifting in and out the structural scan test patterns through the TIC and AMBA bus. This paper introduces a new AMBA based Test Access Mechanism (ATAM) for speedy testing of SoCs embedding ARM cores. While preserving the compatability with the ARM TIC, since scan in and out operations can be performed simultaneously, test application time through the expensive Automatic Test Equipment (ATE) can be drastically reduced.

저자의 다른 논문

참고문헌 (14)

  1. Y. Zorian, E. J. Marinissen and S. Dey, 'Testing Embedded-core based System Chips,' In Proceedings IEEE International Test Conference, pp. 130- 143, Oct. 1998. 
  2. ARM IHI 0011A, 'AMBA Specification (Rev 2.0)'. May 1999 
  3. M. Abramovici, M. Breuer, and A. Friedman, 'Digital Systems Testing and Testable Design,' ?IEEE Press, New York, 1990 
  4. C. Feige et al, 'Integration of the Scan-Test Method into an Architecture Specific Core-Test Approach,' Journal of Electronic Testing, Volume 14, pp. 125-131, July 1998 
  5. C. Lin and H. Liang, 'Bus-Oriented DFT Design for Embedded Cores,' IEEE Asia-Pacific Conference, Volume 1, pp. 561-563, Dec. 2004 
  6. P. Harrod, 'Testing Reusable IP - A Case Study,' In Proceedings of IEEE International Test Conference, pp. 493-498, Sep 1999 
  7. J. Aerts and E.J. Marinissen, 'Scan Chain Design for Test Time Reduction in Core-Based ICs,' Proc. Int'l Test Conf., pp. 448-457, 1998 
  8. E. J. Marinissen et al, 'A Structured and Scalable Mechanism for Test Access to Embedded Reusable Cores,'In Proceedings IEEE International Test Conference, Oct. 1998 
  9. I. Hamzaoglu and J. H. Patel, 'Reducing Test Application Time for Full-Scan Embedded Cores,' Proc. 29th Int'l Symp, Fault-Tolerant Computing (FTCS 99), Digest of Papers, IEEE CS Press, Los Alamitos, Calif., pp. 260-267, 1999 
  10. Advanced RISC Machines, 'AHB Example AMBA System Technical Reference Manual,' ARM DDI 0170A, Aug. 1999 
  11. Advanced RISC Machines, 'ARM PrimeCell External Bus Interface (PL220),' ARM DDI 0249B, Dec. 2002 
  12. ALTERA, 'Excalibur Devices Hardware Reference Manual,' Version 3.1, Nov. 2002 
  13. Atmel Corporation, 'AT91 ARM Thumb Microcontrollers,' AT91R40807, Jan. 2002 
  14. J. Gaisler and E. Catovic, 'Gaisler Research IP Core's Manual,' version 1.0.1, Jun. 2005 

이 논문을 인용한 문헌 (2)

  1. Yi, Hyun-Bean ; Han, Ju-Hee ; Kim, Byeong-Jin ; Park, Sung-Ju 2008. "Efficient AMBA Based System-on-a-chip Core Test With IEEE 1500 Wrapper" 電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. SD, 반도체, 45(2): 61~68 
  2. Song, Jae-Hoon ; Oh, Jung-Sub ; Park, Sung-Ju 2011. "An Efficient Design Technique for Concurrent Core Testing of AMBA-based SoC" 電子工學會論文誌. Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea. SD, 반도체, 48(2): 44~54 

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