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Detecting defects on FPD (Flat Panel Display) color filter before the full panel is made is important to reduce the manufacturing cost. Among many types of defects, the low contrast blemish such as Suzi Mura is difficult to detect using standard CCD cameras. Even skilled inspectors in the inspection...

주제어

AI 본문요약
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문제 정의

  • 첫 번째 광학시스템 그림 6(a)는 투과를 위한 조명으로 특정 파장에서 높은 광량을 갖는 고주파 형광조명을 선정한 시스템이다. 그림 6(b)는 그림 6(a)와 유사한 형태이지만 투과를 위한 조명으로 빨강, 초록, 파랑 영역에서 비교적 균일한 특성을 나타내는 백색 LED 조명을 선택하여 특정 색의 얼룩을 나타내는 수지얼룩의 검출가능성을 확인하고자 하였다. 그림 6(c)는 백색 LED의 특성을 더욱 분명히 해주기 위해 빨강, 초록의 LED 조명을 함께 적용한 시스템이다.
  • 대면적의 컬러필터를 검사하기 위해 본 논문에서는 라인 스캔 방식의 분광 분석 방법을 제안한다. 이 방법을 사용함으로서 검사 시간의 단축과 시각 검사가 어려운 불량에 대한 신뢰성 높은 검사를 기대할 수 있다.
  • 각도, 분광에 대한 교정이 필요하다. 논문에서는 분광 영역과 공각 영역에 대한 교정 방법을 제시한다.
  • 본 논문에서는 일반적인 광학 시스템 및 영상 처리 기법으로 검출이 불가능한 컬러 필터의 수지 얼룩을 분광 카메라를 사용하여 형상화하는 방법을 제안하였다.
  • 있다. 이런 단점을 해결하고자 본 논문에서는 분광기를 사용한 포인트 검사 방식이 아닌 그림 5와 같은 검사 영역을 확장한 라인 형태로 검사가 가능한 분광 카메라를 사용한 검사를 제안하였다. 분광 카메라는 일반 CCD 카메라와는 달리 검사 영역의 분광 촬영이 가능하여 사람의 눈으로 감지하기 어려운 분광 차이를 분석하는데 적합하다.
  • 하지만 검사 가능한 영역이 매우 작기 때문에 검사 시간이 현저하게 느리다는 단점이 있고, 이는 양산라인에 적용하기엔 치명적인 결점이었다. 이를 보안하고자 본 논문에서는 포인트 분광기와 라인 카메라를 접목한 분광 카메라를 이용하여 검사 영역을 라인으로 확장하여 수지 얼룩을 형상화하는 방법을 제안하였다. 본 논문의 구성은 II 장에서 시스템에 대한 설명을 다루고 III 장에서는 사용된 알고리즘을 설명하였다.
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참고문헌 (8)

  1. 강희권. 'TFT-LCD panel에서의 line-mura 검출 자동화 시스템 개발,' 서울대학교, 2005. 

  2. 박성재, 검민수, 검준식, 주효남, 'FPD 결함 검사를 위한 vision inspection system 설계에 관한 연구,' 공업기술연구소 논문집, 제 24권, pp. 123-136, 2005 

  3. 조찬형, 'LCD 광학 검사 장치 개발에 관한 연구.' 금오공과대학교 산업대학원, 2007. 

  4. 김진수, '머신 비전을 이용한 LCD 패널 마크 인식,' 성균관대학교 대학원, 2007. 

  5. 고민석, 'TFT-LCD 표면 검사를 위한 라인 스캔 영상의 재구성,' 경북대학교 대학원, 2006 

  6. 문경수, 'Robust Regression을 이용한 TFT-LCD의 Mura 검출에 관한 연구,' 아주대학교 대학원, 2008. 

  7. 서용원, '디스플레이용 컬러 필터 분야 특허 동향,' 정보통신연구진흥원 학술정보 주간기술동향, 1228호, 2005. 

  8. 강민철, "LCD 컬러 필터 단차 얼룩 결함 검사 시스템과 검출 방법." 호서대학교 대학원, 2006. 

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