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SMPS 시스템에서 용매(물)가 나노입도측정결과에 미치는 영향
The Effect of Water Droplets on the Nano Particle Size Distribution using the SMPS System 원문보기

한국분말야금학회지 = Journal of Korean Powder Metallurgy Institute, v.20 no.2, 2013년, pp.129 - 133  

황보선애 (한국표준과학연구원 신기능재료표준센터) ,  추민철 (한국표준과학연구원 신기능재료표준센터)

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

In this paper we have studied the effect of water droplet size on nano-particle size distribution using SMPS(Scanning Mobility Particle Sizer)system. It can be seen that the unknown peak at >100 nm was caused by water droplets which did not dry completely when DI water was used as a solvent in the S...

주제어

AI 본문요약
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문제 정의

  • 본 논문에서는 SMPS를 이용한 나노입자측정에 미치는 용매(물)의 영향과 Atomizer에서 발생되는 액적의 크기가 측정결과에 미치는 영향에 대하여 조사하였고, 그에 대한 해결책을 제시하였다.
  • 본 연구에서는 SMPS를 이용한 나노입자측정에 미치는 용매(물)의 영향과 Atomizer의 액적의 크기가 측정결과에 미치는 영향에 대하여 연구하였다. Tap Water, Filtered Water, DI Water, Distilled Water의 비교측정결과에서 알 수 있듯이 DI Water를 사용하여 나노입자 현탁액을 만들어 나노입자의 입도를 측정할 경우, 100 nm 이하 영역에서 Unknown Particle이 발현하는 현상은 DI Water의 잔존입자의 영향이 아니라 SMPS 입자발생기인 Atomizer에서 발생된 액적이 덜 건조되어 나타나는 현상임을 알 수 있었다.

가설 설정

  • 따라서 Unknown Particle이 발현되는 첫 번째 가정이었던 PSL 표준 입자 이외의 또 다른 입자의 존재에 대한 가정은 맞지 않은 것으로 판단된다. 그래서 두 번째 가정인 Unknown Particle이 Atomizer에서 발생되는 액적이 완전히 건조되지 않아 남아있는 잔여 액적이 측정되어진 결과라는 가정에 대한 실험을 하였다.
  • 따라서 본 연구에서는 사용한 물에 다른 입자가 존재하는 경우만 고려하였다. 두번째 가정은 입자를 분사할 때, 입자발생기인 Atomizer에서 발생되는 액적이 완전히 건조되지 않아 남아있는 잔여액적이 측정되어진 결과로 가정 할 수 있다. 사용한 물속에 입자가 실제로 존재한다면 필터에 의해 제거되지 않더라도 증류처리를 하면 100 nm 이하에서 발현되는 Unknown Particles은 제거 할 수 있을 것이라는 가정 하에 네 종류의 물을 사용하여 입도 측정을 실시하였다.
  • 두번째 가정은 입자를 분사할 때, 입자발생기인 Atomizer에서 발생되는 액적이 완전히 건조되지 않아 남아있는 잔여액적이 측정되어진 결과로 가정 할 수 있다. 사용한 물속에 입자가 실제로 존재한다면 필터에 의해 제거되지 않더라도 증류처리를 하면 100 nm 이하에서 발현되는 Unknown Particles은 제거 할 수 있을 것이라는 가정 하에 네 종류의 물을 사용하여 입도 측정을 실시하였다.
  • 첫째는 PSL 표준용액에 PSL 표준입자 이외에 또 다른 입자가 존재한다는 것이다. 즉, 100 nm의 크기를 가지는 입자 이외에 또 다른 PSL 입자가 존재하거나용매인 DI water에 다른 입자가 존재한다는 가정을 할 수 있다. 본 실험에서는 물 300 ml에 표준용액은 1 ml로 소량 첨가했기 때문에 표준용액 속에 존재하는 미세입자는 그 영향이 미미하다고 할 수 있다.
  • 그림 3의 측정결과에서 나타난 PSL 표준입자의 원래 입자크기인 100 nm 이하 영역에서 측정되어지는 Unknown Particles에 대한 원인에 대해 다음과 같이 두 가지 가정을 할 수 있다. 첫째는 PSL 표준용액에 PSL 표준입자 이외에 또 다른 입자가 존재한다는 것이다. 즉, 100 nm의 크기를 가지는 입자 이외에 또 다른 PSL 입자가 존재하거나용매인 DI water에 다른 입자가 존재한다는 가정을 할 수 있다.
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질의응답

핵심어 질문 논문에서 추출한 답변
나노입자란? 일반적으로 나노입자는 입경 100 nm 이하의 초미세입자(Ultrafine Particle)를 말한다. 원자와 분자수준의 물질을 제어하여 나노 수준의 구조체인 나노 물질을 생성하는데 그 크기가 분자 또는 원자 수준으로 작아지게 되면서 원재료의 본래 성질과는 다른 새로운 특성을 갖게 되며 이를 이용하면 다양한 용도의 소재로 발전시킬 수 있다.
2006년 나노산업의 생산품 중 약 60%를 차지하는 것은? 초창기의 나노산업은 높은 기술 수준을 요구하지 않고, 시장 진입이 상대적으로 용이한 생활소재 분야중심으로 진행되었다. 2006년 나노산업의 생산품 중 약 60%가 치약, 비누, 화장품, 섬유, 세탁기 등 생활용품이었다. 2008년을 넘어서면서 나노산업이 급격히 발달해 현재는 나노 소재 및 나노공정장비, 나노일렉트로닉스(반도체 중심) 등의 분야의 산업화가 활발히 진행 되고 있다.
SMPS은 무엇으로 구성되는가? SMPS는 입자의 전기적 특성을 이용하여 입자의 직경을 측정하는 방법이다. 이 시스템은 크게 입자발생기(Atomizer), 중화기(Neutralizer), 입자분급기(DMA, Differential Mobility Analyzer), 입자응축 계수기(CPC, Condensation Particle Counter), 그리고 이 들장비를 통합 조절 및 데이터를 수집하는 운용시스템으로 구성되어 있다. Clean air의 공기압으로 인해 입자발생기 (Atomizer)에서 액적이 분사되고 그 중 용매는 건조되고 입자만 분리되어 DMA를 통과하게 된다.
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참고문헌 (9)

  1. M. S. Kim, K. H. Choi, Y. H. Kim and J. H. Yi: Clean Technology, 38 (2007) 159 (Korean). 

  2. B.-K. Choi, K.-H. Kim, D.-S. So and I.-J. Yu: Prospectives of Industrial Chemistry, 10 (2007) 48. 

  3. Y. Kim and J. Yi: News & Information for Chemical Engineers, 23 (2005) 338. 

  4. A. D. Maynard: Ann. Occup. Hyg., 51 (2007) 1. 

  5. A. D. Maynard: A research strategy for addressing risk, PEN 03. Project on Emerging Nanotechnologies (2006). 

  6. Maynard, A. D., Aitken, R. J., Butz, T., Colvin, V., Donaldson, K., Oberdrster, G., Philbert, M. A., Ryan, J., Seaton, A., Stone, V., Tinkle, S. S., Tran, L., Walker, N. J., and Warheit, D. B.: Nature, 444 (2006) 267. 

  7. Maynard, A. D. and Kuempel, E. D.: J. Nanopart. Res., 7 (2005) 587. 

  8. Kwangsik Park: J. Environ Toxicol, 20 (2005) 259 (Korean). 

  9. Keum-Shil Cho, Jin-Sup Shin, and Jung-Hyun Kim: Polumer Science and technology, 15 (2004) 198 (Korean). 

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