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대향 타겟식 스퍼터링 방법에 의해 성막된 Ga-doped ZnO 박막의 전기 광학적 성질
The Electrical and Optical Properties of Ga-doped ZnO Films Prepared by Using Facing Target Sputtering System 원문보기

전기전자재료학회논문지 = Journal of the Korean institute of electronic material engineers, v.26 no.5, 2013년, pp.385 - 390  

최명규 (대구가톨릭대학교 전자공학과) ,  배강 (대구가톨릭대학교 전자공학과) ,  서성보 (대구가톨릭대학교 전자공학과) ,  김동영 (대구가톨릭대학교 전자공학과) ,  김화민 (대구가톨릭대학교 에너지신소재공학과)

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

$(Ga_2O_3)_x(ZnO)_{100-x}$ (GZO) films were prepared at room temperature by using a facing target sputtering (FTS) system and their electrical resistivites was investigated as a function of the $Ga_2O_3$ content. The GZO film with an atomic ratio of $Ga_2O_3$ of x= 7...

주제어

AI 본문요약
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문제 정의

  • (GZO) 투명 전도 박막들을 대향 타겟식 스퍼터 공정에 의해서 제작하였으며, 이들 박막들의 전기적 특성과 광학적 특성 그리고 구조적 특성들이 조사하였다. 특히, 기판온도가 GZO 박막들의 전기적 특성에 미치는 영향을 GZO 박막의 구조적 변화와 연계하여 조사함으로써 투명전도성 GZO 박막의 최적 공정 조건을 제시하고, GZO 박막이 기존의 ITO 박막을 대체할 수 있는 가능성을 제시하고자 한다.
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질의응답

핵심어 질문 논문에서 추출한 답변
투명전도 (transparent conducting oxide, TCO)박막은 어디에 사용되는가? 투명전도 (transparent conducting oxide, TCO)박막은 터치 패널, 평판디스플레이, 그리고 태양전지와 같은 광전소자의 전극으로 널리 사용된다. 최근 불순물이 첨가된 In2O3, SnO2, 그리고 ZnO와 같은 산화물들이 TCO 물질로서 많이 사용되고 있다.
불순물이 첨가된 In2O3, SnO2, 그리고 ZnO와 같은 산화물들의 문제점은? 최근 불순물이 첨가된 In2O3, SnO2, 그리고 ZnO와 같은 산화물들이 TCO 물질로서 많이 사용되고 있다. 그러나 이러한 물질들은 다양한 환경에서의 화학적 또는 열적 불안정성 때문에 그들의 응용에 있어서 많은 제약을 받는다 [1-5].
현재 가장 널리 사용되고 있는 TCO 박막은 무엇인가? 현재 가장 널리 사용되고 있는 TCO 박막은 스퍼터링 방법으로 성막된 인듐 주석 산화물 (indium tin oxide, ITO) 박막이지만, 향후 몇 년 내에 인듐의 고갈이 예상되고 있어 ITO의 가격은 계속 폭등할 것으로 여겨진다. 특히, a-Si 박막태양전지의 전극으로는 주로 SnO2:F 또는 ITO 박막이 사용되고 있으나 수소 플라즈마에 의한 불안전성이나 높은 증착 온도 등이 문제점으로 부각되고 있다 [6].
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참고문헌 (15)

  1. K. L. Chopra and D. K. Pandya, Thin Solid Films, 102, 1 (1983). 

  2. S. Takada, T. Minami, and H. Nanto, Thin Solid Films, 135, 183 (1986). 

  3. Z. L. Pei, C. Sun, M. H. Tan, J. Q. Xiao, R. F. Huang, and L. S. Wen, J. Appl. Phys., 907, 3432 (2001). 

  4. K. Tabuchi, W. W. Wenas, A. Yamada, and K. Kakahashi, Jpn. J. Appl. Phys., 132, 3764 (1993). 

  5. I. An, Y. Lu, C. R. Wronski, and R. W. Collins, Appl. Phys. Lett., 64, 3317 (1994). 

  6. U. Lamp and J. Muller, Sens. Actuators, 18, 269 (1989). 

  7. W. H. G. Horsthuis, Thin Solid Films, 147, 185 (1989). 

  8. S. Honda, A. TsuJimoto, M. Watamori, and K. Oura, J. Vac. Sci. Techol., 133, 1100 (1995). 

  9. I. Hamberg and C. G. Granqvist, J. Appl. Phys., 60, R123 (1986). 

  10. L. Cminami, H. Nanto, and S. Takada, Jpn. J. Appl. Phys., 23, 1280 (1984). 

  11. J. M. Park, J. S. Hong, J. J. Kim, S. H. Park, H. M. Kim, and J. S. Ahn, J. Korean Phys. Soc., 48, 1530 (2006). 

  12. J. M. Park, J. J. Kim, H. M. Kim, J. H. Kim, S. W. Ryu, S. H. Park, and J. S. Ahn, J. Korean Phys. Soc., 48, 1624 (2006). 

  13. B. G. Choi, J. Epn. Cer. Soc., 25, 2161 (2005). 

  14. C. A Hubber, T. E. Hubber, M. Sadoqi, L. A. Lubin, S. Manalis, and C. B. Prater, Science, 263, 800 (1994). 

  15. J. Y. W. Seto, J. Appl. Phys., 46, 5247 (1975). 

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