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초록
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$Y_2O_3$ 세라믹 소결체를 제작하기 위해, $Y_2O_3$ 분말을 분산한 상태에서 슬러리에 pH 조절제인 NaOH를 첨가하였으며 결합제로는 PVA, 가소제로는 PEG를 첨가하여 열분무 건조 공정을 거쳐 $Y_2O_3$ 과립형 분말을 제조하였다. ${\phi}14mm$ 크기의 $Y_2O_3$ 세라믹 성형체를 성형하고, $1650^{\circ}C$의 온도에서 소결하여 $Y_2O_3$ 세라믹 소결체를 제작하였다. $Y_2O_3$ 소결체의 미세구조, 밀도 및 내플라즈마 특성이 성형압력 및 소결시간에 따라 분석되었다. $Y_2O_3$ 소결체는 $CHF_3/O_2/Ar$ 플라즈마에 노출시켜, $Ar^+$ 이온빔에 의한 물리적반응 식각$CHF_3$로부터 분해된, $F^-$ 이온에 의한 화학적반응 식각에 의한 건식 식각 처리가 이루어졌다. 본 연구에서 $Y_2O_3$ 소결체 소결시간의 증가에 따라, 비교적 높은 밀도를 나타내었으며, 내플라즈마 특성이 향상되는 것으로 나타났다.

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

$Y_2O_3$ ceramic specimens were fabricated from the granular powder, obtained by spray drying process from the slurry. The slurry was prepared by mixing PVA binder, NaOH for Ph control, PEG and $Y_2O_3$ powder. The $Y_2O_3$ specimen was shaped in size of ${\phi}...

주제어

AI 본문요약
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제안 방법

  •  Y2O3 성형체는 Ø14 mm인 원형몰드를 사용하여 과립화된 분말을 건식 압축가압 성형에 의해 500~1,500 kgf/cm2 압력 하에 제작하였고, 1,650℃의 소결온도에서, 10~30 hrs을 유지하는 조건으로 소결하였다.
  • 본 실험에서는, Y2O3 원료를 분쇄 후 pH를 조절하여 슬러리를 제조하였다. Y2O3 분말의 성형성을 증진하기 위해 원료분말의 과립화가 필요하며, 과립화된 분말을 성형 및 소결 시 압력, 소결온도 조건에 따른 소결체의 특성을 분석하였다.
  • Y2O3 소결체의 밀도는 Gas-pycnometer(G PYC-100-A, PMI, USA)로 측정하였다. 미세구조는 Scanning Electron Microscope(JSM-5900, JEOL, Japan)을 이용하여 관찰하였다.
  • /Ar) 분위기에서, 물리화학적반응 건식식각을 행한 결과를 Table 2에 나타내었다. Y2O3 시편과 플라즈마 에칭 시험결과를 비교하기 위해, Al2O3, SiC 소재의 건식 에칭 시험 이후 레이저현미경을 이용하여 측정한 식각량을 조사하였다. CHF3 분위기에서 Ar+ 이온빔을 조사시키면, Y2O3 시편의 표면과 충돌되어, 식각물질의 결합을 끊게 하여, 입자들의 이탈을 야기하여 식각(물리적반응 식각)이 일어나며, CHF3는 Y2O3 소결체 표면에 흡착되어, F이온에 의한 화학적 식각거동에 있어서, 반응확률이 증가하며, 첨가가스로서 O2(환원가스)를 공급함에 따라, F-based gas(CHF3)로 부터 F의 분리(etchnant 활성화)되는 조건하에서 화학적반응 식각이 빠르게 진행된 것으로 판단된다[14, 15].
  • 내플라즈마 특성의 분석은 dry etcher장비(Exelan HPT, Lam research, USA)를 활용하여 측정하였으며, 식각된 시편의 단차를 레이저 현미경으로 관찰하였다. 내플라즈마 시험(물리화학적반응 건식식각, reactive ion etching, RIE)은 압력(20 mtorr), RF power(800 W), plasma etching 시간(10 hr), etching gas(CHF3/O2/Ar)의 조건 하에서 수행하였다.
  • 내플라즈마 특성 평가를 위해 본 연구에서 제작된 Y2O3 소결체를 이용하여 etching gas(CHF3/O2/Ar) 분위기에서, 물리화학적반응 건식식각을 행한 결과를 Table 2에 나타내었다.
  • 미세구조는 Scanning Electron Microscope(JSM-5900, JEOL, Japan)을 이용하여 관찰하였다. 내플라즈마 특성의 분석은 dry etcher장비(Exelan HPT, Lam research, USA)를 활용하여 측정하였으며, 식각된 시편의 단차를 레이저 현미경으로 관찰하였다. 내플라즈마 시험(물리화학적반응 건식식각, reactive ion etching, RIE)은 압력(20 mtorr), RF power(800 W), plasma etching 시간(10 hr), etching gas(CHF3/O2/Ar)의 조건 하에서 수행하였다.
  • raw powder는 입자크기가 대략 3~10 µm 범위를 나타냈으며, 이를 분쇄 없이 사용할 경우 높은 소결온도가 요구된다. 따라서, 분무 건조에 적합한 pH 조절 후 분쇄하는 방법과 Zeta-potential이 높은 값을 나타내는 Well-dispersed의 슬러리 상태에서 분쇄 후 분무 건조에 적합한 pH를 나중에 조절하는 방법으로 분말을 전처리하여, 미세구조를 관찰하였다(Fig. 1).
  • 소결체의 밀도는 Gas-pycnometer(G PYC-100-A, PMI, USA)로 측정하였다. 미세구조는 Scanning Electron Microscope(JSM-5900, JEOL, Japan)을 이용하여 관찰하였다. 내플라즈마 특성의 분석은 dry etcher장비(Exelan HPT, Lam research, USA)를 활용하여 측정하였으며, 식각된 시편의 단차를 레이저 현미경으로 관찰하였다.
  • 본 연구에서는 Y2O3 granular powder의 성형압력, 소결시간을 변수로 하여, 소결체를 제작하고, 미세구조 및 밀도, 건식 식각을 통한 플라즈마 저항성 등을 분석하였다.
  • 본 연구에서는, Y2O3 분말을 분쇄하고, 열분무건조를 통해 얻어진, 과립형 분말을 500 kgf/cm2~1,500 kgf/cm2의 성형압력 조건에서 성형하고, 1650℃에서 소결되었다. 성형압력과 소결시간을 증가시킴에 따라, 4.
  • 소결체에 대해 직경측정법을 활용하여 미세조직에 대각선을 그은 후 겹쳐진 grain 갯수를 전체 길이로 나누어 grain size를 측정하였다. 1,000 kgf/cm2 및 1,500 kgf/cm2의 성형압력, 1650℃ 소결온도에서 소결시간이 증가함에 따라 전체적으로 grain size가 증가하는 경향을 나타내었다.
  • 슬러리는 열분무 건조기(FOC-20, Disc type, Ohkawara)를 이용하여 입구온도 180℃, 출구온도 110℃, RPM 4,000, feeding rate 10 L/hr의 조건에서 열분무 건조를 행하여 과립화된 분말을 얻었다.

대상 데이터

  • 1에 분쇄된 분말의 미세구조를 나타내었으며, pH 조절 후 분쇄하는 방법보다 pH 조절 없이 분산된 상태에서 분쇄하였을 경우보다 효과적인 분쇄가 가능하였고, 분쇄 후 입자 크기는 3 µm 이하의 분말이 얻어졌다. 본 실험에서는, Y2O3 원료를 분쇄 후 pH를 조절하여 슬러리를 제조하였다. Y2O3 분말의 성형성을 증진하기 위해 원료분말의 과립화가 필요하며, 과립화된 분말을 성형 및 소결 시 압력, 소결온도 조건에 따른 소결체의 특성을 분석하였다.
  • 본 연구에서는 Y2O3 원료 분말(CZC-ZL China, 순도 99.99 %, 입도 3~10 µm)을 DI water에 분산한 후 볼밀(ball mill)을 통해 1차 분쇄 후 필터링한 슬러리에 바인더, 가소제, 소포제, pH 조절제 등 첨가제를 넣은 후 attrition milling(ZrO2 ball)을 통해 혼합하여 분무과립용 슬러리를 제조하였다.
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질의응답

핵심어 질문 논문에서 추출한 답변
Al2O3의 장점은? 반도체 공정에서 핵심 기술은 선폭의 미세화와 고집적이며, 이를 위해 플라즈마 에칭기술, CVD 코팅 기술 등 반도체 제조 공정의 장비를 활용하게 된다[2]. 반도체 제조용 공정장비(CVD, Etch)는 다양한 플라즈마를 활용하므로, 이들 장비에 사용되는 부품들은 내플라즈마 특성이 우수한 재료를 사용해야 한다[3-5]. 현재까지는 내플라즈마성 소재로서 Al2O3가 주로 사용되고 있으나 오염입자의 저감 및 관리가 엄격한 공정에서는 일부 Y2O3 및 AlN 소재로 교체되는 부품이 점점 늘어나는 추세이다.
세라믹 제품의 수요가 증가하는 이유는? 최근 반도체 및 LED 산업의 급성장으로 인하여 디바이스를 제조하는 장비에 사용되는 세라믹 제품의 수요가 증가하면서 중요성이 더욱 부각되고 있다. 반도체 공정이 미세선폭화로 진행됨에 따라 플라즈마 공정 중에 챔버에서 발생하는 오염입자의 저감이 매우 중요한 이슈가 되고 있다[1].
반도체 공정에서 오염입자의 저감이 중요한 이슈인 이유는 무엇인가? 최근 반도체 및 LED 산업의 급성장으로 인하여 디바이스를 제조하는 장비에 사용되는 세라믹 제품의 수요가 증가하면서 중요성이 더욱 부각되고 있다. 반도체 공정이 미세선폭화로 진행됨에 따라 플라즈마 공정 중에 챔버에서 발생하는 오염입자의 저감이 매우 중요한 이슈가 되고 있다[1]. 반도체 공정에서 핵심 기술은 선폭의 미세화와 고집적이며, 이를 위해 플라즈마 에칭기술, CVD 코팅 기술 등 반도체 제조 공정의 장비를 활용하게 된다[2].
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참고문헌 (16)

  1. G.S. May and C.J. Spanos, "Fundamentals of semiconductor manufacturing and process control" (IEEE, New Jersey, 2006) 98. 

  2. M. Kodo, K. Soga, H. Yoshida and T. Yamamoto, "Doping effect of divalent cations on sintering of polycrystalline yttria", J. Eur. Ceram. Soc. 30 (2010) 2741. 

  3. R. Chaima, A. Shlayer and C. Estournes, "Densification of nanocrystalline $Y_2O_3$ ceramic powder by spark plasma sintering", J. Eur. Ceram. Soc. 29 (2009) 91. 

  4. L. Ana, A. Ito and T. Goto, "Transparent yttria produced by spark plasma sintering at moderate temperature and pressure profiles", J. Eur. Ceram. Soc. 32 (2012) 1035. 

  5. Y. Kobayashi, "Current status and needs in the future of ceramics used for semiconductor production equipment", The 37th Seminar on High Temperature Ceramics, Japan (2005) p. 17. 

  6. H. Di, Z. Yanchun, S. Xudong, L. Xiaodon and L. Shaohong, "Preparation of transparent $Y_2O_3$ ceramic by slip casting and vacuum sintering", J. Rare Earth. 30 (2012) 57. 

  7. J. Singh and D.E. Wolfe, "Nano and macro-structured component fabrication by electron beam-physical vapor deposition (EB-PVD)", J. Mater. Sci. 40 (2005) 1. 

  8. P. Merkert, H. Hahn and J. Rodel, "Sintering behavior of nanocrystalline $Y_2O_3$ ", Nanostructured Mater. 12 (1999) 701. 

  9. X.H. Wang, P.L. Chen and I.W. Chen, "Two-step sintering of ceramics with constant grain-size, I. $Y_2O_3$ ", J. Am. Ceram. Soc. 89 (2006) 431. 

  10. J. Luo, Z. Zhong and J. Xu, "Yttrium oxide transparent ceramics by low-temperature microwave sintering", Mater. Res. Bull. 47 (2012) 4283. 

  11. X. Cheng, C. Yuan, N.R. Green and P.A. Withey, "Sintering mechanisms of Yttria with different additives", Ceram. Int. 39 (2013) 4791. 

  12. S. Balakrishnana, K. Ananthasivana and K.C.H. Kumar, "Studies on the synthesis and sintering of nanocrystalline yttria", Ceram. Int. 40 (2014) 6777. 

  13. H.K. Lee, S.S. Lee, B.R. Kim, T.E. Park and Y.H. Yun, "Microstructure and plasma resistance of $Y_2O_3$ -BN composites", J. Korean Cryt. Growth Cryst. Technol. 24 (2014) 127. 

  14. J.C. Park, B.W. Lee, B.I Kim and H. Cho, "Fluorinebased inductively coupled plasma etching of ZnO film", J. Korean Cryst. Growth Cryst. Technol. 21 (2011) 230. 

  15. J.C. Park, O.G. Jeong, S.Y. Kim, S.J. Park, Y.H. Yun and H. Cho, "Silicon surface texturing for enhanced nanocrystalline diamond seeding efficiency", J. Korean Cryt. Growth Cryst. Technol. 23 (2013) 86. 

  16. D.M. Kim, S.Y. Yoon, K.B. Kim, H.S. Kim, Y.S. Oh and S.M. Lee, "Plasma resistances of yttria deposited by EB-PVD method", J. Kor. Ceram. Soc. 45 (2018) 707. 

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