$\require{mediawiki-texvc}$

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

불량 조기 검출을 위한 SSD 테스트 케이스 개발 방법
SSD Test case generation method for early defect detection 원문보기

한국지능시스템학회 논문지 = Journal of Korean institute of intelligent systems, v.25 no.6, 2015년, pp.542 - 550  

손명규 (성균관대학교 정보통신대학) ,  이지형 (성균관대학교 정보통신대학)

초록
AI-Helper 아이콘AI-Helper

일반적으로 새로운 SSD(Solide State Drive)를 개발할 때는 이전 세대 제품의 소프트웨어 플랫폼을 재사용하게 된다. 따라서, 이전 세대 제품을 평가할 때 사용했던 동일 테스트 케이스를 이용하여 새로운 제품을 평가하면 여러 가지 이점이 있을 수 있지만, 우선순위 또는 가중치가 고려되지 않음으로 인해 평가 리소스의 사용에 비효율성이 존재하게 된다. 이와 같은 시간적, 공간적인 리소스 낭비에 의한 비효율 발생을 방지하기 위해 새로운 방법을 제안한다. 이전 세대 제품의 평가 데이터 분석을 통해서, 불량을 검출해 낼 수 있는 가장 높은 확률의 테스트 케이스의 조합을 찾아내고, 이를 활용함으로써, 평가에 사용되는 리소스의 낭비를 최소화 시키는 방법이다. 소프트웨어가 재사용될 경우, 플랫폼 코드를 베이스로 두고, 수정 또는 추가되는 모듈의 코드가 플랫폼 코드에 통합되는 특징을 가진다. 이러한 특징 때문에 코드가 통합되는 부분에 이전과 유사한 타입의 불량이 다수 존재하게 되는 것이며, 기존 평가에서 가장 높은 확률의 불량 검출율을 가진 평가 조합을 검증에 적용함으로써 내제되어 있는 불량을 조기에 검출할 수 있게 되는 것이다. 이와 같이, 다음 세대 제품의 불량들을 조기에 검출할 수 있다면, 이는 불량 개선에 드는 비용을 최소화 시킬 수 있다는 것을 의미한다.

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

Usually, a new SSD (Solide State Drive) product is developed based on the software platform of the previous product. Therefore, when using the same test case was used to evaluate the previous generation evaluation of new products are a number of advantages may be, but a priority or weight is the ine...

주제어

AI 본문요약
AI-Helper 아이콘 AI-Helper

문제 정의

  • 본 논문에서는 소프트웨어를 사용하는 제품의 불량을 더 효율적으로 검출해 내기 위해, 이전 세대의 평가에 사용된 테스트 케이스를 기반으로 데이터를 재구성 시키고, 재구성된 데이터를 이용하여 불량 발생 확률이 높은 조합을 찾아내서, 그 조합으로 이루어진 테스트 케이스를 평가에 활용하는 방식을 제안하였다. 실험 결과 불량 발생 확률이 높은 조합들로만 구성된 테스트 케이스가, 일반적인 테스트 케이스에 비해, 더 다양한 불량을, 더 짧은 시간 안에 검출해 낼 수 있다는 결론을 확인 할 수 있었다.

가설 설정

  • 불량 Set D={A, B, C, D, E}가 있고, Operation Set O={a, b, c, d, e}가 있다고 가정하자. 또한 테스트를 통해 얻은 Operation Set과 불량의 관계에 대한 결과 레포트가 다음과 같이 8개가 있다고 가정하자. R={a→A, b→B, c→A, d→C, e→A, b→B, e→A }.
  • 불량 Set D={A, B, C, D, E}가 있고, Operation Set O={a, b, c, d, e}가 있다고 가정하자. 또한 테스트를 통해 얻은 Operation Set과 불량의 관계에 대한 결과 레포트가 다음과 같이 8개가 있다고 가정하자.
본문요약 정보가 도움이 되었나요?

질의응답

핵심어 질문 논문에서 추출한 답변
Black box 기법이란? 테스트 케이스를 개발하는 기존 방법으로는 크게 두 가지로 Block box 기법과 White box 기법이 있다. Black box 기법은 테스트 대상의 내부 구조를 참조하지 않고, 요구사항서 등과 같이 문서에 기반 하거나 또는 개발자, 테스터, 사용자 들의 경험을 분석하여, 기능적 혹은 비 기능적 테스트 조건으로 테스트 케이스를 도출하는 방법이며, White box 기법은 테스트 대상이 되는 소프트웨어의 내부 구조에 바탕을 두고, 소스 코드와 소프트웨어 구현 정보를 기반으로 테스트 케이스를 도출하는 방법이다. 그림 1에 테스트 케이스 개발 방법론에 대해 정리하였다.
SSD의 장점은? 전통적인 방식의 HDD가 플레터(Plater)와 헤드(Head)의 조합으로 물리적인 이동을 통해 원하는 주소를 찾아가는데 반해, SSD는 논리적인 주소와 물리적인 주소간의 맵핑을 통해 전기적으로 원하는 주소를 찾아간다는 장점을 가지고 있다. 이와 같은 특성으로 인해 SSD는 HDD 대비 상대적으로 빠르고 가볍다는 제품적인 특징을 가지게 되고, 이 때문에 시장에서 사용자들은 더 많은 비용을 지불하더라도 SSD를 선호하는 경향을 보이고 있다.
테스트 케이스를 개발하는 기존 방법 중 테스트 대상이 되는 소프트웨어의 내부 구조에 바탕을 두고, 소스 코드와 소프트웨어 구현 정보를 기반으로 테스트 케이스를 도출하는 방법은? 테스트 케이스를 개발하는 기존 방법으로는 크게 두 가지로 Block box 기법과 White box 기법이 있다. Black box 기법은 테스트 대상의 내부 구조를 참조하지 않고, 요구사항서 등과 같이 문서에 기반 하거나 또는 개발자, 테스터, 사용자 들의 경험을 분석하여, 기능적 혹은 비 기능적 테스트 조건으로 테스트 케이스를 도출하는 방법이며, White box 기법은 테스트 대상이 되는 소프트웨어의 내부 구조에 바탕을 두고, 소스 코드와 소프트웨어 구현 정보를 기반으로 테스트 케이스를 도출하는 방법이다. 그림 1에 테스트 케이스 개발 방법론에 대해 정리하였다.
질의응답 정보가 도움이 되었나요?

참고문헌 (10)

  1. C. Bishop, "Pattern Recognition and Machine Learning", Springer 2006. 

  2. Karel Dejaeger, Thomas Verbraken and Bart Baesens, "Toward Comprehensible Software Fault Prediction Models Using Bayesian Network Classifiers", IEEE Transactions of Software Engineering, 39(2), February 2013. 

  3. Wang He, Wang Hao and Lin Zhiqing, "Improving Classification Efficiency of Orthogonal Defect Classification Via a Bayesian Network Approach", 2009 Computational Intelligence and Software Engineering, CiSE 2009, 2009. 

  4. Hao Tang and Shi Liu, "Basic Theory of Fuzzy Bayesian Networks and Its Application in Machinery Fault Diagnosis", Fourth International Conference on Fuzzy Systems and Knowledge Discovery, FSKD 2007, 2007, 4:132-137. 

  5. DAhmet Okutan and Olcay Taner Yildiz, "Software defect prediction using Bayesian networks", Empirical Software Engineering, 19(1), February 2014. 

  6. Unchalisa Taetragool and Tiranee Achalakul, "Method for failure pattern analysis in disk drive manufacturing", International Journal of Computer Integrated Manufacturing, 24(9), September 2011. 

  7. Yingxia Cui, Longshu Li and Sheng Yao, "A New Strategy for Pair wise Test Case Generation", 3rd International symposium on Intelligent Information Technology Application, IITA 2009, 2009, 3:303-306. 

  8. Sanjai Rayadurgam and Mats P.E. Heimdahl, "Coverage Based Test-Case Generation using Model Checkers", Proceedings Eighth Annual IEEE International Conference & Workshop On the Engineering of Computer-Based System s-ECBS 2001; 2001, p83-91, 9p. 

  9. Katsuya Iwata, "Black-box test case generation from TFM module interface specifications and usage statistics", Iowa State University, 2012-01-01T08:00:00Z. 

  10. Hyojoung Shin, Don-Jung Choi, Bo-Keong Kim, Taebok Yoon and Jee-Hyong Lee, "A Wear-leveling Scheme for NAND Flash Memory based on Update Patterns of Data", Journal of the Korean Institute of Intelligent Systems, 20(6), December 2010, 761-767 

저자의 다른 논문 :

관련 콘텐츠

오픈액세스(OA) 유형

GOLD

오픈액세스 학술지에 출판된 논문

저작권 관리 안내
섹션별 컨텐츠 바로가기

AI-Helper ※ AI-Helper는 오픈소스 모델을 사용합니다.

AI-Helper 아이콘
AI-Helper
안녕하세요, AI-Helper입니다. 좌측 "선택된 텍스트"에서 텍스트를 선택하여 요약, 번역, 용어설명을 실행하세요.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.

선택된 텍스트

맨위로