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카본 CCL이 적용된 PCB의 열거동 및 신뢰성 특성 연구
A Study on Thermal Behavior and Reliability Characteristics of PCBs with a Carbon CCL 원문보기

마이크로전자 및 패키징 학회지 = Journal of the Microelectronics and Packaging Society, v.22 no.4, 2015년, pp.47 - 56  

조승현 (동양미래대학교 기계공학부) ,  김정철 (한국카본(주)) ,  강석원 (한국카본(주)) ,  성일 (한국카본(주)) ,  배경윤 (한국카본(주))

초록
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본 논문에서는 HDI(High Density Interconnection) 기판의 코어로 사용될 수 있는 카본 CCL(Copper Claded Layer)의 열거동 및 신뢰성 특성을 실험과 CAE를 이용한 수치해석을 통해 평가하였다. 카본 CCL의 특성평가를 위해 기존 FR-4 코어와 heavy cu 코어와 비교하였다. 연구결과에 의하면 pitch계열 카본코어가 적용된 PCB의 휨강도가 가장 높고 온도에 따른 변형량이 가장 낮았다. 또한, HDI 신뢰성평가 기준의 TC(Thermal Cycling), LLTS(Liquid-to-Liquid Thermal Shock), Humidity 실험을 통해 카본코어가 적용된 PCB는 신뢰성이 확보되었음을 확인하였다. 카본 파이버에 의한 불균일한 비아홀의 표면형상 여부와 드릴비트 마모 가능성을 분석하였는데 비아홀의 표면은 균일하고, 드릴비트의 표면도 매끄러워 카본 CCL의 우수한 드릴가공성도 확인하였다.

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

In this paper, the Thermal behavior and reliability characteristics of carbon CCL (Copper Claded Layer), which can be used as the core of HDI (High Density Interconnection) PCB (Printed Circuit Board) are evaluated through experiments and numerical analysis using CAE (Computer Aided Engineering) sof...

주제어

AI 본문요약
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문제 정의

  • 즉, 제조과정에 PCB에 가해지는 외부 열에 의해 발생하는 것이다. 따라서 본 논문에서는 코어종류에 따른 PCB의 온도변화에 따라 열변형 영향을 분석하기 위해 열챔버가 부착된 인장시험기로 열변형을 측정하였다. 실험은 정하중 50 kgf이 시편에 인장력을 가해질 때 분위기 온도를 상온에서 최대 200℃까지 증가시키면서 시편의 변형량을 측정하는 방식으로 각 시편당 3차례 수행되었다.
  • 따라서, 본 논문에서는 카본 CCL이 적용된 PCB의 열거동 특성 연구를 위해 강성도와 온도변화에 따른 열변형을 평가하였고 열충격 실험 등 신뢰성 평가를 수행하였으며, PCB의 FEM 수치해석을 통해 카본 CCL이 적용된 PCB의 warpage를 해석함으로써 연구결과의 신뢰성을 확보하였다. 끝으로 카본 CCL의 홀가공성과 드릴비트의 마모를 분석하여 홀가공성을 평가하였다.
  • 본 논문에서는 HDI 기판의 코어로 사용될 수 있는 카본 CCL의 열거동 및 신뢰성 특성을 실험과 CAE를 이용한 수치해석을 통해 평가하였다. 카본 CCL의 특성평가를 위해 기존 FR-4 코어와 heavy cu 코어와 비교하였다.
  • 본 논문에서는 카본코어가 적용된 PCB의 열적 신뢰성 분석을 위해 TC, LLTS, humidity 평가를 수행하였다. TC와 LLTS 평가는 ESPEC사의 열충격 챔버(모델명 : TSA71H-W)를 이용하였고, 평가 온도조건은 Fig.
  • 코어 재료의 PCB warpage에 대한 영향을 분석하기 위해 본 논문에서는 유한요소법을 이용한 수치해석을 수행하였다. Fig.
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질의응답

핵심어 질문 논문에서 추출한 답변
박판 PCB에서 두께를 줄이면 발생하는 문제점은? 박판 PCB를 구현하기 위해서는 CCL의 코어, 절연재,회로층의 두께를 줄이는 것이 필요하지만 PCB 두께의 감소와 반비례하게 휨 불량이 증가하는 단점이 있다. 이와 같은 PCB의 warpage 증가는 via hole 크랙, 솔더조인트의 크랙과 미결합 등 PCB 내부의 신뢰성 불량 뿐만 아니라 PCB와 패키지 어셈블리 공정 불량 등 많은 신뢰성 이슈의 원인이 되고 있다.
박판 PCB를 구현하기 위해 무엇이 필요한가? 박판 PCB를 구현하기 위해서는 CCL의 코어, 절연재,회로층의 두께를 줄이는 것이 필요하지만 PCB 두께의 감소와 반비례하게 휨 불량이 증가하는 단점이 있다. 이와 같은 PCB의 warpage 증가는 via hole 크랙, 솔더조인트의 크랙과 미결합 등 PCB 내부의 신뢰성 불량 뿐만 아니라 PCB와 패키지 어셈블리 공정 불량 등 많은 신뢰성 이슈의 원인이 되고 있다.
PCB의 휨 불량이 증가하면 발생하는 문제점은? 박판 PCB를 구현하기 위해서는 CCL의 코어, 절연재,회로층의 두께를 줄이는 것이 필요하지만 PCB 두께의 감소와 반비례하게 휨 불량이 증가하는 단점이 있다. 이와 같은 PCB의 warpage 증가는 via hole 크랙, 솔더조인트의 크랙과 미결합 등 PCB 내부의 신뢰성 불량 뿐만 아니라 PCB와 패키지 어셈블리 공정 불량 등 많은 신뢰성 이슈의 원인이 되고 있다.1-3) 따라서 PCB의 휨을 감소시키기 위한 기술개발이 학계와 산업계에서 강성이 높고 열팽창이 작은 소재개발, PCB디자인 변경 등 지속적으로 진행되고 있으며,4-6) 수치해석과 실험계획법을 이용한 연구개발도 활발히 적용되고 있다.
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참고문헌 (15)

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  2. J. Liu, C. P. Wang, and J. L. Prince, "Electronic Packaging: Design, Materials, Process, and Reliability", McGraw-Hill, New York (1997). 

  3. R. Darveaux, C. Reichman, and N. Islam, "Interface Failure in Lead Free Solder Joints", Proc. 56th Electronic Components and Technology Conference (ECTC) (2006). 

  4. Seunghyun Cho, S. J. Cho, and J. Y. Lee, "Estimation of warpage and thermal stress of IVHs in flip-chip ball grid arrays package by FEM", Microelectron Reliab., 48(2), 300, (2008). 

  5. J. H. Lau and S.-W. R. Lee, "Effects of Build-Up Printed Circuit Board Thickness in the Solder Joint Reliability of a Wafer Level Chip Scale Package (WLCSP)", Trans. Comp. Packag. Technol., 25(1), 3 (2002). 

  6. S. H. Cho, H. I. Jung, and O. C. Bae, "Numerical Analysis on the Design Variables and Thickness Deviation Effects on Warpage of Substrate for FCCSP", J. Microelectron. Packag. Soc., 19(3), 57 (2012). 

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  9. W. Sun, W. H. Zhu, K. S. Le, and H. B. Tan, "Simulation Study on the Warpage Behavior and Board-level Temperature Cycling Reliability of PoP Potentially for High-speed Memory Packaging", International Conference on Electronic Packaging Technology & High Density Packaging (ICEPT-HDP 2008), Shanghai, 1, IEEE (2008). 

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  11. S. H. Cho and J. Y. Lee, "Heat dissipation of printed circuit board by the high thermal conductivity of photo-imageable solder resist", Electronic materials letters., 6(4), 167 (2011). 

  12. S. H. Cho, "Heat dissipation effect of Al plate embedded substrate in network system", Microelectronics Reliability, 48, 1696 (2008). 

  13. X. J. Fan, "Combined thermal and thermomechanical modeling for a multichip QFN package with metal-core printed circuit board", The Ninth Intersociety Conference on Thermal and Thermomechanical Phenomena in Electronic Systems (ITHERM), 2. 377, IEEE (2004). 

  14. X. J. Fan and S. Haque, "Emerging MOSFET packaging technologies and their thermal evaluation", Proc. 8th ASME/IEEE Intersociety Conference on Thermal and Thermomechanical Phenomena in Electronic Systems (ITHERM), San Diego, 1102 (2002). 

  15. MARC 2014 user manual, Volume A : Theory and user information, (2014). 

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