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NTIS 바로가기Industrial engineering & management systems : an international journal, v.2 no.2, 2003년, pp.203 - 209
Sun, Tien-Lung , Tsai, Chih-Cheng
Yield analysis and improvement is critical for IC manufacturing companies to reduce cost and remain competitive in the market. This paper uses a combined data mining and data visualization technique to extract useful information from data collected from a quality engineering engagement during IC man...
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