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NTIS 바로가기Journal of the Korean Physical Society, v.53 no.1, 2008년, pp.244 - 248
We investigated the local structural properties around the Zn and the Mn atoms of Zn1-xMnxTe (ZMT) magnetic semiconductor films (x = 0.16 and 0.27) by using the X-ray absorption fine structure (XAFS). The ZMT films were synthesized with a hot-wall epitaxy process. The XAFS measurements at the Zn K ...
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