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Does your SEM Really tell the truth?—how would you know? Part 1

Scanning, v.35 no.6, 2013년, pp.355 - 361  

Postek, Michael T. (National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, Maryland) ,  Vladár, András E. (National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, Maryland)

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

SummaryThe scanning electron microscope (SEM) has gone through a tremendous evolution to become a critical tool for many and diverse scientific and industrial applications. The high resolution of the SEM is especially suited for both qualitative and quantitative applications especially for nanotechn...

주제어

참고문헌 (21)

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