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초록

미세 회로 기술의 발전은 단일 칩에 집적될 수 있는 트랜지스터의 수를 지속적으로 증가시키고 있으며 이에 따라 설계의 복잡도 역시 크게 증가하고 있다. 이러한 설계 복잡도의 증가는 여러 기능 블록이 IP(Intellectual Property) 형태로 독립적으로 설계되어서 이들의 조합으로 새로운 시스템을 구성하는 시스템 온 칩(System On a Chi)과 같은 새로운 시스템 설계 방법에 대한 요구를 증가시키고 있다.[1]. 이런 시스템 온 칩에 사용될 메모리 시스템 역시 기존의 표준화된 메인 메모리 이 외에 각각의 다양한 응용에 적합한 맞춤형(Application Specific Standard Products) 내장 메모리 시스템 구조에 대한 필요성이 대두되고 있다. 이와 같이 특정 응용에 적합한 메모리 시스템을 설계할 수 있는 기본 정보를 제공해 주는 것이 필수적이다. 또한 이러한 정보에 따라 설계된 메모리 시스템에 대한 성능 평가할 환경도 함께 요구된다. 본 연구에서는 다양한 응용의 메모리 참조 특성을 분석하고 특성화하기 위하여 캐쉬 파라메터의 변화에 따른 캐쉬 접근 실패의 분포, 메모리 접근 영역의 분포, 참조 사이에 있는 유일한 참조의 수의 분포 등 다양한 정보를 제공해 주는 환경을 구축하였다.

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