초록

용어보기논문에서 용어와 풀이말을 자동 추출한 결과로, 시범 서비스 중입니다. AI-Helper

본 논문에서는 RTL 회로의 데이터패스에 대한 테스트 용이도 분석방식과 테스트 용이화 설계방식을 제안한다. 데이터패스에 대한 테스트 용이도 분석은 콘트롤러에 대한 정보없이 RTL 회로의 데이터패스만으로 수행한다. 본 논문에서 제안한 테스팅을 고려한 설계방식은 내장된 자체 테스트(BIST)나 주사(scan)방식이 아니며, 주사 방식을 적용했을 때에 비해 본 논문에서 제안한 테스트 용이화 설계방식을 적용했을 때에 보다 적은 면적 증가율(area overhead)을 보인다는 것을 실험을 통해 확인하였다. 또한, 회로 합성 후 ATPG를 통해 적은 면적 증가만으로 높은 고장 검출율(fault coverage)을 얻을 수 있음을 보인다.

본 논문에서는 RTL 회로의 데이터패스에 대한 테스트 용이도 분석방식과 테스트 용이화 설계방식을 제안한다. 데이터패스에 대한 테스트 용이도 분석은 콘트롤러에 대한 정보없이 RTL 회로의 데이터패스만으로 수행한다. 본 논문에서 제안한 테스팅을 고려한 설계방식은 내장된 자체 테스트(BIST)나 주사(scan)방식이 아니며, 주사 방식을 적용했을 때에 비해 본 논문에서 제안한 테스트 용이화 설계방식을 적용했을 때에 보다 적은 면적 증가율(area overhead)을 보인다는 것을 실험을 통해 확인하였다. 또한, 회로 합성 후 ATPG를 통해 적은 면적 증가만으로 높은 고장 검출율(fault coverage)을 얻을 수 있음을 보인다.

AI 본문요약

엑셀 다운로드 AI-Helper

* AI 자동 식별 결과로 적합하지 않은 문장이 있을 수 있으니, 이용에 유의하시기 바랍니다.

• 연구 주제
• 연구 방법
• 연구 결과

문제 정의

• 본 논문에서뉸 RTL 회로에 대해서 내장된 자체 테스트 방식이나 주사 방식을 적용하지 않고 테스트 용이 도를 향상 시키 는 방안을 제안한다. 제안하는 방식은 콘트롤러에 대한 정보 없이 데이터 패스만을 고려하여 테스트 용이 도를 분석한다.
• 본 논문에서는 RTL 수준회로의 콘트롤러에 대한 정보 없이 데이터 패스에 대한 정보만을 갖고 테스트용이 도를 부석하여 테스트용이 도가 낮은 기능 모듈을 위해 테스트용 멀티플렉서를 삽입해야 할 위치와 우선순위를 결정하는 방식을 제시하였다. 실험 결과를 통해 RTL 수준회로의 데이터 패스 정보만을 이용한 테스트용이도 분석을 통해서도 높은 고장 검출율과 짧은 테스트 패턴 생성 시간을 얻을 수 있음을 확인하였다.

가설 설정

• 11개의 멀티플렉서에 필요한 제어 신호인 ml-mll과 메모리 모듈을 위한 제어신호인 loadl니oad5는 콘트롤러에서부터 데이터 패스로 인가되는 신호들이다. 본 논문에서 이들 제어 신호들은 주 입력과 마찬가지로 완벽하게 제어할 수 있다고 가 정하였다
• 제안하는 방식은 콘트롤러에 대한 정보 없이 데이터 패스만을 고려하여 테스트 용이 도를 분석한다. 이때 콘트롤러로부터 데이터 패스로 안가 되는 제어 신호들은 완벽하게 제어할 수 있다고 가정한다. 본 논문에서 제안된 방식을 적용할 때 필요한 입력은 RTL 데이터 패스와 그 데이터 패스에서 어떠한 모듈이 기능(functional) 모듈인가에 대한 정보이다.
• 제어 도와 관측도 분석단계에서 삽입 위치가 결정된 테스트용 멀티플렉서들의 집합을 7라 할 때, 하나의 테스트용 멀티플렉서 txk(^ T, 虹단 |T|¥0)의 추가로 새롭게 형성될 제어경로와 관측경로를 나타내눈 n 짝들의 원소들의 집합을 라 하면 次次의 삽입 우선순위는 다음과 같이 정의할 수 있다. 정의 3.3: 테스트용 멀티플렉서 况* 삽입 우선순위 Pt자는 阵 = 이다

제안 방법

• 본 논문에서 제안한 그림 2의 테스트용 멀티플렉서의 삽입 방식은 기능 모듈에 대해서만 제어 도와 관측 도를 분석하며 메모리모듈과 멀디플렉서는 기능모듈에 비해 로직이 매우 간단하기 때문에 제어 도와 관측도 분석을 하지 않는다, 그러므로 제안한 방식을 적용하기 위해서는 테스트 용이도률 분석하고자 하는 RTL 회로의 데이터 패스와 함께 어떠한 모듈이 기능 모듈인지를 우선 알고 있어야 한다.
• 본 논문에서뉸 RTL 회로에 대해서 내장된 자체 테스트 방식이나 주사 방식을 적용하지 않고 테스트 용이 도를 향상 시키 는 방안을 제안한다. 제안하는 방식은 콘트롤러에 대한 정보 없이 데이터 패스만을 고려하여 테스트 용이 도를 분석한다. 이때 콘트롤러로부터 데이터 패스로 안가 되는 제어 신호들은 완벽하게 제어할 수 있다고 가정한다.

대상 데이터

• X={由, %2, 私, &, 允5』6, 为故8, 晩, 払0, 豹1}로 나타낼 수 있다. 11개의 멀티플렉서에 필요한 제어 신호인 ml-mll과 메모리 모듈을 위한 제어신호인 loadl니oad5는 콘트롤러에서부터 데이터 패스로 인가되는 신호들이다. 본 논문에서 이들 제어 신호들은 주 입력과 마찬가지로 완벽하게 제어할 수 있다고 가 정하였다
• 표 3은 벤치마크 회로에 어떠한 DFT 방식도 적용하지 않았을 때와 주사 사슬(scan chain)을 삽입했을 때의 면적증가율을 비교하여 보여주고 있다. 실험에서는 kg75 라이브러리를 사용하여 Synopsvs로 합성한 후 면적을 구했다.

성능/효과

• DFT 방식을 적용하지 않았을 때의 고장검출율은 표 2의 두 번째 열인 Original^ 나타나 있으며 세 번째 열은 본 논문에서 제안한 방식을 적용했을 때의 고장검출율을 나 따내고 있다. Pa니in의 경우 총 여섯 개의 테스트용 멀티플렉서들 중 우선순위가 가장 높은 하나의 테스트용 멀티플렉서를 삽입했을 때 10。%의 고장검출율을 얻을 수 있었다.
• 본 논문에서 제안한 방식은 결과로서 각각의 테스트용 멀티플렉서가 데이터 패스에 삽입될 위치와 함께 삽입 우선순위 (priority)를 제공하며, 이러한 결과 정보를 이용하여 우선순위가 높은 테스트용 멀티플렉서를 우선적으로 삽입함으로써 테스트 용이 도가 높은 회로를 설계할 수 있다.
• 본 논문에서는 RTL 수준회로의 콘트롤러에 대한 정보 없이 데이터 패스에 대한 정보만을 갖고 테스트용이 도를 부석하여 테스트용이 도가 낮은 기능 모듈을 위해 테스트용 멀티플렉서를 삽입해야 할 위치와 우선순위를 결정하는 방식을 제시하였다. 실험 결과를 통해 RTL 수준회로의 데이터 패스 정보만을 이용한 테스트용이도 분석을 통해서도 높은 고장 검출율과 짧은 테스트 패턴 생성 시간을 얻을 수 있음을 확인하였다.

본문요약 정보가 도움이 되었나요? 예 아니오 제출

이 논문을 인용한 문헌

더보기