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NTIS 바로가기한국전기전자재료학회 1998년도 추계학술대회 논문집, 1998 Nov. 01, 1998년, pp.199 - 202
김은식 (전기안전시험연구원(ESLRI)) , 김영욱 (전기안전시험연구원(ESLRI)) , 김종서 (전기안전시험연구원(ESLRI)) , 윤철섭 (전기안전시험연구원(ESLRI)) , 박대희 (원광대학교 전기전자공학부)
Power capacitors are highly reliable equipment due to their completely enclosed configuration. Aging diagnosis system using partial discharge(PD) and acoustic emission(AE) is being highlighted as a research area for degradation of power capacitors. Their dielectric strength can be however reduced du...
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