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문제 정의
- 따라서 본 연구에서는 계수치 관리도 중 불량개수 관리도에서 샘플사이의 샘플링 간격이 고정된 경우의 FSI pn 관리도와 신호가 발생함에 따라 샘플간격에 변화되는 가변추출구간을 가지는 VSI pn 관리도를 ATS로 그 수행도들을 비교ㆍ평가함으로써 기존 연구들에서 시도되지 않았던 계수치 관리도에 VSI 기법을 적용한 새로운 관리도 절차를 개발하여 통계적 공정관리의 실용성을 높이고자 한다.
- 본 연구에서는 Ryan과 Schwertman0] 제시하고 있는 pn 관리도에서의 최적 관리한계에서 FSI pn 관리도와 VSI 기법을 이용한 pn 관리도에서의 수행도를 비교한다.
- 본 연구에서는 기존의 고정된 샘플구간을 갖는 pn 관리도와 VSI 기법을 이용한 pn 관리도의 수행도를 분석하고자, Ryan과 Schwertman이 제시하는 샘플크기, 공정불량률과 관리한계에서 각 관리도의 수행도를 ATS로 비교ㆍ분석하였다. 그 결과를 요약하면 다음과 같다.
- 만약 공정 변화가 발생할 가능성이 충분히 크다면 그때 관리도는 표준 관리도와 같은 방법으로 신호가 나타난다. 본 연구에서는, 동일한 평균 샘플링율과 허위 경보율을 가졌을 때, VSI 관리도는 FSI 관리도보다 본질적으로 대부분의 공정변화를 더 빨리 탐지한다는 것을 보여주고자 한다.
- 샘플 사이의 시간이 다양할 때, 현재의 샘플구간이 이전의 샘플에 의존하는 Pn 관리도의 특성을 평가하고자 한다. 긴 샘플 구간은 현재 통계량 값이 공정 목표값 가까이 있을 때 사용되어지고, 반면에 짧은 샘플 구간은 통계량이 관리 한계선 가까이 있을 때 사용된다.
가설 설정
- 본 연구에서 pn 관리도의 수행도를 분석하기 위하여 Fortran IMSL 프로그램 BINDF를 이용하여 이항분포의 누적확률밀도 함수를 계산하고, 이때의 샘플크기 n는 200이고, 불량률 p는 0.05를 따른다고 가정한다.
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