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반도체 검사 장비의 진동 분석
Vibration Analysis of Inspection Equipment for a Semiconductor 원문보기

한국소음진동공학회 2008년도 춘계학술대회논문집, 2008 Apr. 17, 2008년, pp.569 - 574  

임경화 (한국기술교육대학교) ,  안채헌 (한국기술교육대학교 메카트로닉스공학부 대학원) ,  오정배 (세크론(주)) ,  이혁 (세크론(주)) ,  노준호 (세크론(주))

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

Nowadays, the equipment for a semiconductor process is required to raise accuracy and productivity. Therefore, the natural frequency of the equipment has been lowered because it has been precise, rapid, large, and light. In order to improve the efficiency of production, it is necessary for the equip...

AI 본문요약
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* AI 자동 식별 결과로 적합하지 않은 문장이 있을 수 있으니, 이용에 유의하시기 바랍니다.

문제 정의

  • 한편, 임경화 등6)은 고속 표면 마운트 장치 시스템의 진동 문제를 분석하고 구조설계 변경을 통하여 진동 저감 효과를 확인하였고 구동기의 가속 형태에 따른 진동응답 특성을 분석하였다. 본 논문에서는 기존 장비의 성능 개선 및 향후 제품 개발에 필요한 기계 시스템 구조의 동특성 해석을 기초로 진동 저감을 고려한 기구 설계 기법과 시스템 운영 기법에 필요한 기본 자료를 확보하였으며 그리고 모드 시험(modal test)을 통한 문제 분석 및 이를 이용한 해결 방안 모색에 대한 연구 자료를 제시하였다.
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질의응답

핵심어 질문 논문에서 추출한 답변
대형화, 경량화된 기계 시스템에서 필연적으로 발생하는 문제점은? 따라서 이에 대응하는 반도체 장비 개발 분야에서도 고정밀화와 더불어 고속화, 대형화, 경량화가 지속적으로 진행되고 있다. 그러나 대형화, 경량화된 기계 시스템은 고유진동수의 저하가 필연적으로 발생되며 이 시스템이 수율 향상을 위해 고속으로 운영될 경우 운전 주파수가 시스템의 공진 영역으로 접근함으로써 큰 진동이 발생되는 문제가 대두된다. 따라서 고정밀도를 요하는 공정 구동이 불가능하게 되며, 정착 시간 증가로 수율 향상에 큰 저해 요소로 작용하게 된다.
z축의 경우 가진 주파수와의 특별한 상관관계는 보이지 않으나 고속 기동 시 피크가 명확히 나타나는 이유는? z축의 경우 가진 주파수와의 특별한 상관관계는 보이지 않으나 고속 기동 시에는 피크가 명확히 나타난다. 이는 z축 구동용으로 사용된 구동용 전동기는 구동 시 큰 진동을 유발한다고 알려진 스테핑 모터(stepping motor)이므로 제어용 스텝 펄스에 관계된 구동 주파수의 영향으로 추정된다. 그러므로 향후 목표로 하는 구동 속도는 볼스크류의 리드 길이를 고려하여 척과 브리지 등 주요 부품의 고유진동수를 회피하도록 설정할 전략을 세울 수 있다.
공정 수행 시 주요 부품인 척의 역할은? 공정 수행 시 주요 부품인 척은 스테이지에 의해 마이크로미터(㎛) 수준의 정밀도를 가지고 고속 구동되는 부품으로 장비 전체 성능에 결정적인 역할을 하게 된다. 따라서 척의 각 부위에서 고유진동수를 측정하고 모드형상을 분석하여 이의 동특성과 적합성 여부를 검증한다.
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