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반사형 디지털 홀로그래피현미경의 위상 측정연구
Phase Measurement with in-line Reflection Type Digital Hologram Microscope 원문보기

한국광학회 2007년도 하계학술발표회 논문집, 2007 July 01, 2007년, pp.269 - 270  

조형준 (제주대학교 물리학과) ,  임진웅 (제주대학교 물리학과) ,  유영훈 (제주대학교 물리학과) ,  신상훈

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문제 정의

  • 본 연구에서는 off-axis 반사형 홀로그램 현미경의 단점을 해결하기 위하여 in-line 반사형 홀로그램 장치를 구성하고, 광학계에서 발생하는 잡음을 제거 할 수 있는 방법에 대하여 연구 하였고, 이 장치를 이용하여 불투명 물체의 3차원 상을 측정하였다.
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