초록

본 발명은 기존의 정성적이고 주관적인 방식으로 평가되었던 특허의 수명을 보다 정량적이고 실증적으로 예측할 수 있는 특허수명예측장치 및 그 동작 방법에 관한 것이다.

대표청구항 ▼

특허 수명 예측을 위해 기 정의된 다수의 특허수명지표 각각의 지표 값을 등록 특허로부터 추출하는 추출부; 및상기 다수의 특허수명지표와 관련하여 특허권이 만료된 만료 특허 군으로부터 추출되는 지표 값과 그에 따른 각 만료 특허의 실제 수명을 학습한 특허수명예측모델을 기초로 상기 등록 특허의 지표 값으로부터 예측되는 기대 수명을 상기 등록 특허에 대한 특허 수명으로 확인하는 확인부를 포함하며,상기 특허수명예측모델은,상기 다수의 특허수명지표 각각의 지표 값을 새로운 차원으로 전사 (Projection)한 주성분 분석 결과, 분산이 가장

특허 수명 예측을 위해 기 정의된 다수의 특허수명지표 각각의 지표 값을 등록 특허로부터 추출하는 추출부; 및상기 다수의 특허수명지표와 관련하여 특허권이 만료된 만료 특허 군으로부터 추출되는 지표 값과 그에 따른 각 만료 특허의 실제 수명을 학습한 특허수명예측모델을 기초로 상기 등록 특허의 지표 값으로부터 예측되는 기대 수명을 상기 등록 특허에 대한 특허 수명으로 확인하는 확인부를 포함하며,상기 특허수명예측모델은,상기 다수의 특허수명지표 각각의 지표 값을 새로운 차원으로 전사 (Projection)한 주성분 분석 결과, 분산이 가장 큰 차원의 순서로 적어도 하나의 주성분을 결정하며, 각 특허수명지표 별로 각 주성분과의 상관계수를 확인하여, 상관계수의 절대 값이 가장 큰 주성분 값으로 지표 값을 변환하여 학습하는 것을 특징으로 하는 특허수명예측장치.