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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/공개특허 |
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 | 10-2001-0080477 (2001-12-18) |
공개번호 | 10-2002-0052939 (2002-07-04) |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020010080477 |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2006-11-22) |
심사진행상태 | 거절결정(일반) |
법적상태 | 거절 |
LSI나 배선 기판 회로를 회로의 설계 단계에서, 용이하게 검증할 수 있는 설계 회로의 검증 방법을 제공하는 것이다. 회로 시뮬레이션에 의한 해석에 의해, 설계 단계에서의 설계 회로의 전기 특성을 검출하여 기준 데이터와 비교하고, 이에 따라 수정해야 할 사항 및 장소 등을 특정하고, 수정의 내용을 설계 회로의 특정된 장소에 표시하여 회로의 설계를 수정한다. 이에 따라, 회로의 설계 효율을 높일 수 있다.
소정의 회로를 설계하는 프로세스;상기 설계 회로를 구성하는 회로 요소의 전기 특성을 나타내는 기준 데이터를 시뮬레이션하는 프로세스;상기 회로 요소의 전기 특성을 검출하여 상기 기준 데이터와 비교하는 프로세스;상기 비교 결과에 따라 수정해야 할 상기 회로 요소를 특정하여, 상기 설계 회로를 수정하는 프로세스를 포함하는 설계 회로의 검증 방법.
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