초록

본 발명은 내재적 형광(IF) 측정치를 사용한 고체 또는 반고체 배지 상의 미생물의 스캐닝, 검출 및 모니터링 방법 및 시스템에 관한 것이다.상기 방법은 추가로 상기 미생물의 특징적인 내재적 형광(IF) 측정치를 사용한 고체 또는 반고체 배지 상의 미생물의 검출, 특성화 및/또는 동정에 관한 것이다.

대표청구항 ▼

(a) 1000 μm 미만의 직경을 갖는 여기 빔으로 하나 이상의 콜로니를 직접적으로 조사하여 상기 콜로니 내의 미생물의 특징적인 내재적 형광(IF) 측정치를 생성하는 단계; (b) 상기 내재적 형광 측정치를 기준으로 여기-방출 매트릭스(EEM)를 결정하는 단계로서, 상기 EEM은 두 개 이상의 상이한 파장 쌍을 포함하는, 단계;(c) 분류 모델 분석을 이용하여 상기 EEM을 알려져 있는 미생물의 EEM의 데이터베이스와 비교하는 단계; 및 (d) 상기 분류 모델 분석을 기준으로 콜로니 내의 미생물을 동정하는 단계를 포함하는, 고체

(a) 1000 μm 미만의 직경을 갖는 여기 빔으로 하나 이상의 콜로니를 직접적으로 조사하여 상기 콜로니 내의 미생물의 특징적인 내재적 형광(IF) 측정치를 생성하는 단계; (b) 상기 내재적 형광 측정치를 기준으로 여기-방출 매트릭스(EEM)를 결정하는 단계로서, 상기 EEM은 두 개 이상의 상이한 파장 쌍을 포함하는, 단계;(c) 분류 모델 분석을 이용하여 상기 EEM을 알려져 있는 미생물의 EEM의 데이터베이스와 비교하는 단계; 및 (d) 상기 분류 모델 분석을 기준으로 콜로니 내의 미생물을 동정하는 단계를 포함하는, 고체 또는 반고체 배지 상의 미생물의 검출 및 동정 방법.