최소 단어 이상 선택하여야 합니다.
최대 10 단어까지만 선택 가능합니다.
다음과 같은 기능을 한번의 로그인으로 사용 할 수 있습니다.
NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/등록특허 | |
---|---|---|
국제특허분류(IPC8판) |
|
|
출원번호 | 10-2013-0077719 (2013-07-03) | |
등록번호 | 10-1476745-0000 (2014-12-19) | |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020130077719 | |
발명자 / 주소 | ||
출원인 / 주소 |
|
|
대리인 / 주소 |
|
|
심사청구여부 | 있음 (2013-07-03) | |
심사진행상태 | 등록결정(일반) | |
법적상태 | 소멸 |
본 발명은 비접촉식 3차원 측정기를 이용하여 분말의 표면을 스캔하고, 그 결과를 바탕으로 분말 특성을 고려한 표면 조도 값을 정량적으로 평가하는 방법에 관한 것이다. 종래의 분말 형상을 정성적인 방법으로 해석하거나, 비표면적 등으로 정량적으로 평가하는 것에 비해 간소하면서도 신뢰성 있는 분말의 표면 조도를 정량화할 수 있는 방법이다. 또한, 물리적 의미를 고려한 표면조도의 정량화 방법을 세 가지 고려함으로써, 분말의 표면 조도가 성형성 및 성형강도에 미치는 영향을 판단하는데 더욱 용이하다. 본 발명에 따른 분말 표면 조도의 정량화
분말 표면 조도의 정량화 방법으로서,(a) 비접촉식 3차원 측정기를 이용하여 분말의 표면 프로파일 정보를 얻는 단계;(b) 형상이 둥근 분말의 특성을 고려하여 분말의 너비와 높이로부터 길이가 긴 것을 장축, 짧은 것을 단축으로 하는 타원을 그려 분말에 기준선을 정하는 단계;(c) 상기 기준선에 대한 편차로 표면 조도를 정의하는 단계;를 포함하는 3차원 측정기를 이용한 분말 표면 조도의 정량화 방법.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.