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연합인증

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신개념 레이저 변위 측정장치를 이용한 단차 측정방법 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 한국(KR)/등록특허
국제특허분류(IPC8판)
  • G01B-011/16
  • G01B-011/30
  • G01B-009/02
  • H04N-005/225
출원번호 10-2017-0018271 (2017-02-09)
공개번호 10-2018-0092514 (2018-08-20)
등록번호 10-1991512-0000 (2019-06-18)
DOI http://doi.org/10.8080/1020170018271
발명자 / 주소
  • 전덕관 / 대전광역시 서구 복수남로**번길 **, ***호 (복수동)
출원인 / 주소
  • 주식회사 아몬텍 / 대전광역시 동구 석천로 **-* (낭월동)
대리인 / 주소
  • 홍성훈
심사청구여부 있음 (2017-02-09)
심사진행상태 등록결정(일반)
법적상태 등록

초록

본 발명은 신개념 레이저 변위 측정장치를 이용한 단차 측정방법에 관한 것으로, 영상처리 프로그램과 측정용 화면을 포함하고, 각종 전원장치를 갖추며, 줌렌즈와 카메라가 일체로 결합된 몸체가 수직 상방으로 이동가능하며, 상기 몸체의 일측에 일정각도로 레이저 장치가 일체로 장착된 신개념 레이저 변위 측정장치를 이용한 단차 측정방법에 있어서, 장치를 가동하여 화면에 광점이 보이게 조정하여 그 위치를 0점으로 정하는 제1 단계, 카메라의 광점이 사라지도록 측정대상물을 측정을 위한 베이스에 안착시키는 제2 단계, 상기 카메라와 줌렌즈가 일체로

대표청구항

영상처리 프로그램과 측정용 화면을 포함하고, 각종 전원장치를 갖추며, 줌렌즈와 카메라가 일체로 결합된 몸체가 수직 상방으로 이동가능하며, 상기 몸체의 일측에 일정각도로 레이저 장치가 일체로 장착된 신개념 레이저 변위 측정장치를 이용한 단차 측정방법에 있어서,장치를 가동하여 화면에 광점이 보이게 조정하여 그 위치를 0점으로 정하는 제1 단계,카메라의 광점이 사라지도록 측정대상물을 측정을 위한 베이스에 안착시키는 제2 단계,상기 카메라와 줌렌즈가 일체로 결합된 몸체를 Z축으로 상방으로 이동시켜 상기 화면에 광점이 나타날 때가지 이동시키

발명자의 다른 특허 :

이 특허를 인용한 특허 (1)

  1. [한국] 테라헤르츠파를 이용한 검사 시스템 | 김성훈
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