초록 ▼

본 발명은 미세플라스틱 검출장치에 관한 것으로서, 측정대상 시료관을 통해 흐르는 시료수에 펄스광을 출력하는 광원부와, 시료관을 기준으로 광원부 맞은편에배치되어 시료관으로부터발생되는 형광신호를 검출하는 광검출부와, 광검출부에서 출력되는 신호로부터 시료관을 통해 흐르는 시료수 내에 미세플라스틱이 있는지를 판단하고, 검출된 미세플라스틱을 계수하여 설정된 산출방식으로 미세 플라스틱 검출정보를 제공하는 산출부를 구비한다. 이러한 미세플라스틱 검출장치에 의하면, 시료수 내의 미세플라스틱을 계수하여 제공할 수 있어 미세플라스틱 오염 정도를 측정

본 발명은 미세플라스틱 검출장치에 관한 것으로서, 측정대상 시료관을 통해 흐르는 시료수에 펄스광을 출력하는 광원부와, 시료관을 기준으로 광원부 맞은편에배치되어 시료관으로부터발생되는 형광신호를 검출하는 광검출부와, 광검출부에서 출력되는 신호로부터 시료관을 통해 흐르는 시료수 내에 미세플라스틱이 있는지를 판단하고, 검출된 미세플라스틱을 계수하여 설정된 산출방식으로 미세 플라스틱 검출정보를 제공하는 산출부를 구비한다. 이러한 미세플라스틱 검출장치에 의하면, 시료수 내의 미세플라스틱을 계수하여 제공할 수 있어 미세플라스틱 오염 정도를 측정하는데 이용할 수 있는 장점을 제공한다.

대표청구항 ▼

측정대상 시료관을 통해 흐르는 시료수에 펄스광을 출력하는 광원부와;상기 시료관을 기준으로 상기 광원부 맞은편에 배치되어 상기 시료관으로부터 발생되는 형광신호를 검출하는 광검출부와;상기 광검출부에서 출력되는 신호로부터 상기 시료관을 통해 흐르는 시료수 내에 미세플라스틱이 있는지를 판단하고, 검출된 미세플라스틱을 계수하여 설정된 산출방식으로 미세 플라스틱 검출정보를 제공하는 산출부;를 구비하고, 상기 광원부는자외선 펄스광을 출사하는 자외선 광원과;상기 자외선 광원에서 출사되는 광의 빔을 상기 시료관에 집속되게 조정하는 적어도 하나의 빔

측정대상 시료관을 통해 흐르는 시료수에 펄스광을 출력하는 광원부와;상기 시료관을 기준으로 상기 광원부 맞은편에 배치되어 상기 시료관으로부터 발생되는 형광신호를 검출하는 광검출부와;상기 광검출부에서 출력되는 신호로부터 상기 시료관을 통해 흐르는 시료수 내에 미세플라스틱이 있는지를 판단하고, 검출된 미세플라스틱을 계수하여 설정된 산출방식으로 미세 플라스틱 검출정보를 제공하는 산출부;를 구비하고, 상기 광원부는자외선 펄스광을 출사하는 자외선 광원과;상기 자외선 광원에서 출사되는 광의 빔을 상기 시료관에 집속되게 조정하는 적어도 하나의 빔조정 렌즈;를 구비하고,상기 광검출부는 상기 자외선 광원에서 출사되는 광의 파장보다 길며 상기 미세플라스틱에서 발생되는 형광에 대응되게 설정된 검출파장 이상의 파장신호를 통과시키는 필터와;상기 필터를 통해 수신되는 신호에 대응되는 전기적 신호를 상기 산출부에 출력하는 광검출기와;상기 시료관과 상기 광검출기 사이에 설치되어 상기 시료관에서 발생되는 형광신호를 상기 광검출기에 집속시키는 적어도 하나의 집속렌즈;를 구비하며, 상기 산출부는 상기 광검출부에서 출력되는 신호가 설정된 기준 라이프타임 이상으로 유지된 신호에 대해 미세 플라스틱 입자로 계수하되 형광신호 지속 시간동안 발생되는 피크 수가 복수개인 경우 피크수에 대응되는 개수의 미세플라스틱이 있는 것으로 계수하면서 미세플라스틱 검출정보를 생성하는 것을 특징으로 하는 미세플라스틱 검출장치.