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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/공개실용신안 |
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 | 20-1996-0062269 (1996-12-30) |
공개번호 | 20-1998-0049104 (1998-10-07) |
DOI | http://doi.org/10.8080/2019960062269 |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사진행상태 | 취하(심사미청구) |
법적상태 | 취하 |
본 고안은 측정용 공구 현미경에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 형상이 복잡한 측정물을 측정시 보조램프를 이용하여 측정물의 화질을 개선할 수 있게 한 것이다.본 고안은 측정용 공구 현미경(1)을 이용하여 측정물(2)을 측정함에 있어서, 상기 측정물(2)을 비추도록 된 상·하램프(3,4) 이외에 별도의 보조램프(5)가 부설되어, 상·하램프(3,4)에 의해 비추어지지 않는 흐릿한 부위는 보조램프(5)를 이용하여 밝게 비추어 줄 수 있도록 되고, 상기 보조램프(5)의 지지대(51)는 플렉시블 타입으로 되고, 상기 지지대(51)의 끝단에는
측정용 공구 현미경(1)을 이용하여 측정물(2)을 측정함에 있어서, 상기 측정물(2)을 비추도록 된 상·하램프(3,4) 이외에 별도의 보조램프(5)가 부설되어, 상·하램프(3,4)에 의해 비추어지지 않는 흐릿한 부위는 보조램프(5)를 이용하여 밝게 비추어 줄 수 있도록 구성됨을 특징으로 하는 측정용 공구 현미경.
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