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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0585737 (1975-06-10) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 14 인용 특허 : 0 |
A voltage probe is provided for measuring high frequency transients during electromagnetic pulse simulator testing of electronic devices. A probe tip module including input terminals for receiving transient voltages, a differential amplifier producing a representative output voltage in response to t
Differential voltage probe means comprising: a probe module having positive and negative voltages input terminals, differential amplifier and driver circuit means providing voltage output signals as a function of the logarithm of the voltage differences at said input terminals, and first and second
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