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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0479707 (1974-06-17) |
우선권정보 | UK-0029053 (1973-06-19) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 7 인용 특허 : 0 |
An arrangement for testing tube-like articles for defects includes scanning a defect detecting device in a helical path about the article; marking, upon receipt of defect indicative signals at the device, a pictorial record of the magnitude and position along the article of defects shown by the rece
A method of testing elongate articles for defects comprising scanning a defect detecting device in a helical path about the article; marking, upon receipt of defect indicative signals at the device, a pictorial record of the magnitude and position along the article of defects shown by the received d
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