[특허]Method and apparatus for dual resolution analysis of a scene

Method and apparatus for dual resolution analysis of a scene 원문보기

IPC분류정보
국가/구분	United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)	H01J-039/12 G01N-033/16
출원번호	US-0526896 (1974-11-25)
발명자 / 주소	Green James E. (Box 734 Fayetteville TN 37334)
인용정보	피인용 횟수 : 25 인용 특허 : 0

초록 ▼

A method and apparatus for analyzing a scene at a low resolution until an object of interest is detected. Thereafter, the object of interest is analyzed at a higher resolution while continuing to analyze the scene at the low resolution. In the preferred embodiment, the scene compromises a blood samp

대표청구항 ▼

A dual resolution sample scanning apparatus comprising: means for positioning a sample; a first opto-electrical image scanning means producing an output signal when a sample object is encountered during scanning; a second opto-electrical image scanning means for producing output signals representative of a scanned image; optical means for imaging a low resolution sample field on said first opto-electrical image scanning means and a higher resolution sample field on said second opto-electrical image scanning means; means responsive to the output signal from said first opto-electrical image scanning means for moving the higher resolution sample field relative to the sample to bring the encountered sample object into the higher resolution field for scanning by said second opto-electrical image scanning means while the first opto-electrical image scanning means continues to scan the low resolution field to detect any other objects in the sample, said continuing low resolution field scan being performed without moving the sample relative to at least one of said resolution fields; and, utilization means responsive to the output signals from said second opto-electrical image scanning means.

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