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Particle detecting system 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01N-021/00
  • G02B-021/06
출원번호 US-0498382 (1974-08-19)
발명자 / 주소
  • Block Myron J. (Nahant MA)
출원인 / 주소
  • Block Engineering, Inc. (Cambridge MA 02)
인용정보 피인용 횟수 : 38  인용 특허 : 0

초록 ▼

Submicron-sized particles are detected by a system which observes emission, as by scattering or by fluorescence from particles undergoing Brownian motion in a region of a fluid medium excited by an evanescent wave created adjacent an interface between the fluid medium and a multiple internal totally

대표청구항 ▼

Apparatus for detecting submicron dimensional particles in a fluid medium, said apparatus comprising, in combination: a totally internally reflecting cell bounded at least in part by an interface with said medium; and imaging optical means including means for focussing said optical means so that the

이 특허를 인용한 특허 (38)

  1. Yguerabide Juan ; Yguerabide Evangelina E. ; Kohne David E. ; Jackson Jeffrey T., Analyte assay using particulate labels.
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  2. Yguerabide, Juan; Yguerabide, Evangelina E.; Kohne, David E.; Jackson, Jeffrey T., Analyte assay using particulate labels.
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  3. Suzuki Takashi,JPX ; Ohsaki Yoshinori,JPX, Apparatus for measuring optical characteristics.
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  4. Norton Adam E. ; Mallory Chester L. ; Pham Hung V. ; Rasmussen Paul, Broadband microspectro-reflectometer.
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  5. Shenkin Mark Lee (Pembroke Pines FL), Detection of reticulocytes.
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  6. Wulf Jurgen,DEX, Device for the detection of a fluorescent dye.
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  7. Gigler, Alexander Michael; Hackstein, Holger; Pastusiak, Remigiusz; Wiesner, Kerstin, Dust line with optical sensor, and method for measuring the composition of dust.
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  8. Keller, Christian A., Fiber optic fluid impurity detector.
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  9. Porath-Furedi Asher (10 Kubovy St. ; Ramat Danya Jerusalem ILX), Method and apparatus for measuring the motility of sperm cells.
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  10. Higashi, Noboru; Kariyama, Naomi; Ikehata, Akifumi, Method for attenuated total reflection far ultraviolet spectroscopy and an apparatus for measuring concentrations therewith.
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  11. Jääskeläinen, Juha, Method for illuminating particles contained in a medium for optical analysis, and optical particle analyser.
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  12. Natan, Michael J., Method for tagging material with surface-enhanced spectroscopy (SES)-active composite nanoparticles.
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  13. Kamrat Esko (Vantaa FIX), Method for the illumination of particles contained in a medium for an optical analysis, and an optical particle analyser.
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  14. Riebel, Ulrich; Kraeuter, Udo, Method of measuring particle sizes.
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  15. Mohnsen Helmut M. (Ismaning DEX) Reuter Benno (Oberschleissheim DEX) Schauerte Wulfram (Grafrath/Wiedenroth DEX), Method of measuring the interaction between walls and fluid.
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  16. Natan, Michael J., Method of tagging materials with surface-enhanced spectroscopy-active sandwich particles.
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  17. Meyer, Tobias; Teruel, Mary N., Methods and apparatus for the high through-put detection of binding interactions in vivo.
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  18. Yguerabide,Juan; Yguerabide,Evangelina; Warden,Laurence; Peterson,Todd, Methods for providing extended dynamic range in analyte assays.
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  19. Natan, Michael J.; Doering, William E., Methods of use for surface enhanced spectroscopy-active composite nanoparticles.
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  20. Natan, Michael J.; Piotti, Marcelo Eduardo, Nanoparticulate chemical sensors using SERS.
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  21. Carr Robert,GBX, Optical detection and analysis of sub-micron particles.
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  22. Rastopov,Stanislav, Optical detection of particles in a liquid medium.
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  23. Hellwarth Robert W. (Los Angeles CA) Christensen ; Jr. C. Paul (Venice CA), Optical harmonic microscope assembly and examination method.
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  24. Seaver, George A., Optically amplified critical wavelength refractometer.
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  25. Iwa,Yoichiro; Miyakawa,Kazuhiro; Saito,Susumu, Particle monitoring apparatus and vacuum processing apparatus.
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  26. Shanks Ian A. (Bedford GB2) Smith Alan M. (Bedford GB2), Photometric instruments, their use in methods of optical analysis, and ancillary devices therefor.
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  27. Ferrell Thomas L. (1100 Hickory Trail Dr. Knoxville TN 37932) Warmack Robert J. (12024 Ridgeland Dr. Knoxville TN 37932) Reddick Robin C. (Rte. 3 ; Box 315 Louisville TN 37932), Photon scanning tunneling microscopy.
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  28. Natan, Michael J.; Cromer, Remy; Doering, William E.; Walton, Ian D., Polymer coated SERS nanotag.
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  29. Reel, Richard; Nordman, Eric; Sakai, Tomoyuki; Takahashi, Satoshi; Inaba, Ryoji, Refractive index matching in capillary illumination.
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  30. Reel,Richard T.; Nordman,Eric S.; Sakai,Tomoyuki; Takahashi,Satoshi; Inaba,Ryoji, Refractive index matching in capillary illumination.
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  31. Schutt Ernest G. (Long Valley NJ) Dondero Richard S. (Riverdale NJ) Hansen William P. (Middleboro MA) Hovorka George B. (Hyde Park MA) Meyer Raymond E. (Arlington MA) Utberg Karin L. (Bridgewater NJ), Scattered total internal reflectance immunoassay system.
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  32. Guerra John M., Stereoscopic photon tunneling microscope.
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  33. Prins, Menno Willem Jose; Schleipen, Johannes Joseph Hubertina Barbara, Support with a surface structure for sensitive evanescent-field detection.
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  34. Natan, Michael J.; Penn, Sharron Gaynor; Freeman, R. Griffith; Chakarova, Gabriela; Doering, William E.; Walton, Ian D., Surface enhanced spectroscopy-active composite nanoparticles comprising Raman-active reporter molecules.
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  35. Perkins, Elaine Ann; Squirrell, David James, Surface plasmon resonance.
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  36. Erb Judith ; Downward ; IV James, Surface treatment and light injection method and apparatus.
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  37. Erb Judith ; Downward ; IV James, Surface treatment and light injection method and apparatus.
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  38. Christensen Douglas A. ; Herron James N. ; Simon Eric M., Waveguide lens.
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