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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0489372 (1974-07-17) |
우선권정보 | DT-2338192 (1973-07-27) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 8 인용 특허 : 0 |
A device for testing leakage of vacuum-tight glass seals by means of high voltage electrodes arranged on either side of the glass seal. At least one of the electrodes consists of a hot gas jet from a burner which is connected at one end to the high voltage source.
A device for testing any leakage of vacuum-tight glass seals by means of electrodes which are connected to a high voltage source, said electrodes being arranged on either side of the glass seal, which electrodes produce an electric breakdown through the glass seal in the case of leakage wherein at l
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