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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0556898 (1975-03-10) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 19 인용 특허 : 0 |
Automatic balancing circuits are provided for non-destructive testing systems such as eddy current systems in which an unbalance of a probe circuit including a test coil produces undesired deviations from a null indication. Error signal components are generated from a probe circuit output signal, st
In a non-destructive testing system comprising a probe circuit including probe means adapted to be placed in proximity to a part to develop an output signal according to characteristics of the part, indicating means, and signal processing means having input means coupled to said probe circuit to res
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