$\require{mediawiki-texvc}$
  • 검색어에 아래의 연산자를 사용하시면 더 정확한 검색결과를 얻을 수 있습니다.
  • 검색연산자
검색도움말
검색연산자 기능 검색시 예
() 우선순위가 가장 높은 연산자 예1) (나노 (기계 | machine))
공백 두 개의 검색어(식)을 모두 포함하고 있는 문서 검색 예1) (나노 기계)
예2) 나노 장영실
| 두 개의 검색어(식) 중 하나 이상 포함하고 있는 문서 검색 예1) (줄기세포 | 면역)
예2) 줄기세포 | 장영실
! NOT 이후에 있는 검색어가 포함된 문서는 제외 예1) (황금 !백금)
예2) !image
* 검색어의 *란에 0개 이상의 임의의 문자가 포함된 문서 검색 예) semi*
"" 따옴표 내의 구문과 완전히 일치하는 문서만 검색 예) "Transform and Quantization"

통합검색

도움말도움말
상세검색 다국어 입력

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

특허 상세정보

MyON담기
내보내기 페이스북 공유 카카오톡 공유

Contact-free thickness measuring method and device

특허상세정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판) G01B-011/06   
미국특허분류(USC) 356/381 ; 250/560 ; 356/1
출원번호 US-0647669 (1976-01-09)
우선권정보 DT-2501015 (1975-01-13)
발명자 / 주소
출원인 / 주소
대리인 / 주소
    Hill, Gross, Simpson, Van Santen, Steadman, Chiara & Simpson
인용정보 피인용 횟수 : 18  인용 특허 : 0
초록
▼

A method and device for the contact-free measurement of the thickness of a workpiece having first and second surfaces which are opposite and plane-parallel to each other characterized by providing a single laser beam, deflecting the laser beam, splitting the deflected laser beam into two sub-beams which are directed to opposite sides of a reference plane, reflecting at least a portion of each of the sub-beams towards the reference plane so that each portion is moved on one of the first and second surfaces of the workpiece from an initial position to a po...

대표청구항이 없습니다

이 특허를 인용한 특허 피인용횟수: 18

  1. Shirley, Lyle. Apparatus and methods for optically monitoring thickness. USP2005086937350.
  2. Wiederrich James L. (Lodi CA) Chang Andrew K. (Malibu CA) Muray Julius J. (Los Altos CA). Apparatus for measuring wheel alignment of motor vehicles. USP1981024249824.
  3. Shakespeare, Tarja T.; Shakespeare, John F.. Apparatus, system, and method for print quality measurements using multiple adjustable sensors. USP2011098017927.
  4. Shakespeare, Tarja T.; Shakespeare, John F.. Color sensor. USP2010037688447.
  5. Mallory Roy (Bedford MA). Contacts for conductivity-type sensors. USP1987024646009.
  6. Bodlaj Viktor (Munich DEX). Device for contact-free thickness measurement. USP1980034192612.
  7. Bodlaj Viktor (Munich DEX). Device/process for contact free distance and thickness measurement. USP1980054201475.
  8. Cook, Scott A.; Bertin, Michael C.; Baker, Derrick. Laser thickness gauge and method including passline angle correction. USP2015109151595.
  9. Coulombe, Alain; Cantin, Michel; Nikitine, Alexandre. Method and system for measuring the relief of an object. USP201111E042899.
  10. Coulombe,Alain; Cantin,Michel; Nikitine,Alexandre. Method and system for measuring the relief of an object. USP2006047023559.
  11. Matsumoto, Takahiro. Position detection apparatus and exposure apparatus. USP2009057528966.
  12. Palmateer, John W.. Ring laser measurement apparatus and method. USP2017069683831.
  13. Webster Larry D. (San Jose CA). Sidelooking laser altimeter for a flight simulator. USP1983074391514.
  14. Shakespeare, Tarja T.; Shakespeare, John F.. System and method for adjusting an on-line appearance sensor system. USP2013038401809.
  15. Shakespeare, John F.. System and method for z-structure measurements using simultaneous multi-band tomography. USP2011027880156.
  16. Coulombe,Alain; Cantin,Michel; Nikitine,Alexandre. System for simultaneous projections of multiple phase-shifted patterns for the three-dimensional inspection of an object. USP2008077403650.
  17. Jasinski,W. Ted; Haran,Frank M.. Thin thickness measurement method and apparatus. USP2007047199884.
  18. Ganapathy, Viswanath; Basalingappa, Vijayakumar; Venkoparao, Vijendran Gopalan; Freeman, Neil. Wireless conveyor belt condition monitoring system and related apparatus and method. USP2013128618929.

IPC 상위 출원인