$\require{mediawiki-texvc}$

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

Optical dimension measuring device employing an elongated focused beam 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01B-011/10
출원번호 US-0726991 (1976-09-27)
발명자 / 주소
  • Taylor
  • Francis M.
출원인 / 주소
  • Systems Research Laboratories, Inc.
대리인 / 주소
    Biebel, French & Nauman
인용정보 피인용 횟수 : 18  인용 특허 : 1

초록

In an optical dimension gauging instrument, commonly referred to as a laser micrometer, particularly for use in measuring the outside dimension of elongated cylindrical objects, such as coated wires or steel tubes, in hostile optical environments, including a laser for generating a beam of collimate

대표청구항

대표청구항이 없습니다.

이 특허에 인용된 특허 (1)

  1. Petrohilos Harry G. (Yellow Springs OH) Taylor Francis M. (Xenia OH), Light beam shape control in optical measuring apparatus.

이 특허를 인용한 특허 (18)

  1. Ross, Terence J., Cable and line inspection mechanism.
  2. Rudd, Eric P.; Konicek, John P.; Gaida, John D., Component sensor for pick and place machine using improved shadow imaging.
  3. Demarest Frank C. (Killingworth CT) Iderosa Richard A. (Rocky Hill CT), Electro-optical measuring system.
  4. Case Steven K. ; Jalkio Jeffrey A. ; Haugan Carl E. ; Rudd Eric ; Peterson Bruce, High precision semiconductor component alignment systems.
  5. Haugan Carl E. ; Jalkio Jeffrey A. ; Case Steven K., Method and apparatus for electronic component lead measurement using light based sensors on a component placement machine.
  6. George,Ian M., Method and apparatus for measuring centerline runout and out of roundness of a shaft.
  7. Haberl Rainer (Traiskirchen ATX) Mravlag Kurt (Vienna ATX), Method and apparatus for measuring the surface of an object.
  8. Nakata Kazuo (Fujisawa JPX) Iochi Akihiko (Odawara JPX) Kaise Isamu (Fujisawa JPX) Takeuchi Kazuo (Kamakura JPX) Nomura Katsuhiko (Kamakura JPX), Method for automatic, non-destructive measurement of eccentricity of coated electrodes.
  9. Kranz, David M.; Duquette, David W.; Dawson, Matthew W., Method for measuring center of rotation of a nozzle of a pick and place machine using a collimated laser beam.
  10. Trainer, Michael, Methods and apparatus for determining characteristics of particles.
  11. Carl E. Haugan ; Bruce Peterson ; Jan T. A. van de Ven NL, Methods and apparatus for using optical sensors in component replacement heads.
  12. Adams Bruce L. (21 Brookhill Rd. Hamden CT 06514), Optical gaging system.
  13. Kellie Truman F. (Westchester OH) Landry J. David (Wilmington NC) Lai Ching C. (Pleasanton CA), Optical inspection system.
  14. Thomas Alan E. (Tulsa OK) Thompson Leon E. (Slippery Rock PA), Optical profile measuring apparatus.
  15. Dashwood Nigel J. R. (Royston GB2) Plummer Dexter R. (Ongar GB2), Optical scanner.
  16. Durant David R. (White Plains NY), Sight glass and product cleaning system.
  17. Bonewitz Manuel ; Kosta Bozidar, System and method for image acquisition for inspection of articles on a moving conveyor.
  18. Bonewitz Manuel ; Kosta Bozidar ; Parniawski Richard, System and method for stress detection in a molded container.
섹션별 컨텐츠 바로가기

AI-Helper ※ AI-Helper는 오픈소스 모델을 사용합니다.

AI-Helper 아이콘
AI-Helper
안녕하세요, AI-Helper입니다. 좌측 "선택된 텍스트"에서 텍스트를 선택하여 요약, 번역, 용어설명을 실행하세요.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.

선택된 텍스트

맨위로