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특허 상세정보

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Measuring instrument

특허상세정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판) G01B-007/34    G01B-007/28   
미국특허분류(USC) 33/504 ; 33/545 ; 73/105
출원번호 US-0679819 (1976-04-23)
우선권정보 UK-0016813 (1975-04-23); UK-0000475 (1976-01-07)
발명자 / 주소
출원인 / 주소
대리인 / 주소
    Brisebois & Kruger
인용정보 피인용 횟수 : 14  인용 특허 : 0
초록
▼

A surface measurement apparatus of the type in which a sensor is traversed along a path in contact with or adjacent the surface of a component under test. The sensor has three or more transducers which, in the described embodiment, physically contact the surface under test and produce individual signals as they are traversed along the same path over the surface of the component under test. The signals produced by the transducers are amplified and combined in such a way that the composite signal so produced is not dependent on any variation in the positio...

대표청구항이 없습니다

이 특허를 인용한 특허 피인용횟수: 14

  1. Edwin,Emil; Arnesen,Tore. Apparatus for inspecting deformation of pipes. USP2007017159477.
  2. Bankestrom, Olle; Gabrielsson, Goran; Gothberg, Anders. Device, computer program product and method for indicating a function deviation of one or more details of manufacturing equipment using frequency component analysis. USP2004036708128.
  3. Bankestrom,Jan Olof; Gabrielsson,Goran; Gothberg,Anders. Device, method, computer program product, and carrier for indicating at least one of an orbit of, and a deviation from a nominally round surface. USP2008127461462.
  4. Enomoto Masato,JPX. Machine control gage system performing roughness and roundness measuring functions. USP2000086098452.
  5. Baker, Stephen. Measurement of roughness of a playing surface. USP2013018359907.
  6. Hecht Hans (Linz ATX). Measuring arrangement provided at a roller way formed by rotatably mounted rollers as well as a method of evaluating the. USP1982104354315.
  7. Corbin John (9707 Barlow Rd. Fairfax VA 22031). Method and apparatus for measuring surface roughness. USP1986024573131.
  8. Shimazutsu Hiroaki,JPX ; Tsumura Youichirou,JPX ; Hayashi Kanji,JPX ; Takeno Koichi,JPX. Method for measuring roll profile. USP2000116151791.
  9. Shimazutsu Hiroaki (Hiroshima JPX) Matsumoto Teruyuki (Hiroshima JPX) Miyamoto Osamu (Hiroshima JPX) Hayashi Kanji (Hiroshima JPX). Method for measuring roll profile and apparatus therefor. USP1990044916824.
  10. Whitehouse David J. (Melton Mowbray GB2) Sharma Harish C. (Leicester GB2). Method of determining the coordinates of the center of curvature of the curved surface of a workpiece. USP1982074342091.
  11. Face, III, S. Allen. Movable platform for use with surface profiling system. USP2004086782631.
  12. Seddon Peter,GBX ; Mills Michael,GBX ; Scott Paul James,GBX ; White Roy George,GBX ; Whittle Derek Roger,GBX. Surface form measurement. USP2001126327788.
  13. Porter John P. (Cuyahoga Falls OH). Surface irregularity analyzer. USP1980074213331.
  14. Mizuno Satoshi (Kawasaki JPX). Surface roughness measuring instrument. USP1987054665739.

IPC 상위 출원인