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Method of orienting objects using optically smeared images

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01N-021/30
출원번호 US-0779158 (1977-03-18)
발명자 / 주소
  • Lewis
  • Robert W.
  • Joseph
  • Bernard W.
  • Faxvog
  • Frederick R.
출원인 / 주소
  • General Motors Corporation
대리인 / 주소
    Hill, Warren D.
인용정보 피인용 횟수 : 7  인용 특허 : 1

초록

The orientation of an industrial part such as a microcircuit chip having a pattern of dominant parallel lines is determined by an optical method. An image of the parallel line pattern is smeared or defocused in a known direction such that the resultant smeared image of the part reveals the lines in

대표청구항

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이 특허에 인용된 특허 (1)

  1. Matsumoto Yoshio (Yokohama JA) Okamoto Keiichi (Yokohama JA), Apparatus for relatively positioning a plurality of objects by the use of a scanning optoelectric microscope.

이 특허를 인용한 특허 (7)

  1. Chevillat Pierre (Adliswil CHX) Schindler Hans R. (Langnau CHX), Arrangement for determining the optimum scan angle for printed documents.
  2. Matmon, Guy; Rafaeli, Eli; Shekel, Eyal, Cylindrical lens alignment method.
  3. Kleinhans William A. (Santa Ana CA), Electro-optic sensor for measuring angular orientation.
  4. Schick Dieter (Solms DEX), Method and apparatus for testing the correspondence of line of sight with target line.
  5. Bartholet Stephen J. (Orange CA), Micropositioning apparatus for a robotic arm.
  6. Miller William I. (Campbell CA) Reimiller Robert D. (Sunnyvale CA), Pattern alignment system and method.
  7. Okutani Norio (Neyagawa JPX) Matsumura Kenichi (Yamatokoriyama JPX) Inoue Toshitsugu (Kyoto JPX), Position detecting apparatus.
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