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Moderate field hole and electron injection from one interface of MIM or MIS structures 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • H01L-029/34
출원번호 US-0808501 (1977-06-21)
발명자 / 주소
  • DiMaria
  • Donelli J.
  • Young
  • Donald R.
출원인 / 주소
  • International Business Machines Corporation
대리인 / 주소
    Sughrue, Rothwell, Mion, Zinn and Macpeak
인용정보 피인용 횟수 : 16  인용 특허 : 2

초록

A graded oxide MIM or MIS structure employs band gap grading of the insulator oxide so that holes or electrons (depending on voltage bias) can be injected into the insulator oxide under moderate electric field conditions from the contact at one interface. Electron or hole injection from the opposite

대표청구항

대표청구항이 없습니다.

이 특허에 인용된 특허 (2)

  1. DiStefano Thomas Herman (Tarrytown NY), Dielectric diode, fabrication thereof, and charge store memory therewith.
  2. Harari Eliyahou (Irvine CA), Process for fabricating non-volatile field effect semiconductor memory structure utilizing implanted ions to induce trap.

이 특허를 인용한 특허 (16)

  1. Grise Gary D. (Milton VT) Hsieh Ning (San Jose CA) Kalter Howard L. (Colchester VT) Lam Chung H. (Williston VT), Dense electrically alterable read only memory.
  2. Goldsmith Norman (East Brunswick NJ) Hsu Sheng T. (Lawrenceville NJ), Gate injected floating gate memory device.
  3. Lien Jih-Chang (Sugarland TX) Chiu Te-Long (Houston TX), Interlevel insulator for integrated circuit with implanted resistor element in second-level polycrystalline silicon.
  4. Sokoloski Joseph C. (East Brunswick NJ) Ipri Alfred C. (Princeton NJ), MNOS Memory transistor.
  5. Goldsmith Norman (East Brunswick NJ) Hsu Sheng T. (Lawrenceville NJ), Method of forming an improved gate member for a gate injected floating gate memory device.
  6. Lam Chung H. (Troy NY), Non-volatile dynamic random access memory cell.
  7. Bass ; Jr. Roy S. (Underhill VT) Bhattacharyya Arup (Essex Junction VT) Grise Gary D. (Colchester VT), Non-volatile memory cell having Si rich silicon nitride charge trapping layer.
  8. DeKeersmaecker Roger F. (Cronton-on-Hudson NY) DiMaria Donelli J. (Mt. Kisco NY) Young Donald R. (Ossining NY), Non-volatile memory devices fabricated from graded or stepped energy band gap insulator MIM or MIS structure.
  9. Cook Herbert C. (Georgia VT) Troutman Ronald R. (Essex Junction VT), Programming floating gate devices.
  10. Yoshii, Shigeo; Morimoto, Kiyoshi; Morita, Kiyoyuki; Sorada, Haruyuki, Semiconductor device.
  11. Yoshii, Shigeo; Morimoto, Kiyoshi; Morita, Kiyoyuki; Sorada, Haruyuki, Semiconductor device including barrier layer having dispersed particles.
  12. Yamazaki, Shunpei; Koyama, Jun; Miyanaga, Akiharu; Fukunaga, Takeshi, Semiconductor thin film and method of manufacturing the same and semiconductor device and method of manufacturing the same.
  13. Yamazaki, Shunpei; Koyama, Jun; Miyanaga, Akiharu; Fukunaga, Takeshi, Semiconductor thin film and method of manufacturing the same and semiconductor device and method of manufacturing the same.
  14. Yamazaki,Shunpei; Koyama,Jun; Miyanaga,Akiharu; Fukunaga,Takeshi, Semiconductor thin film and method of manufacturing the same and semiconductor device and method of manufacturing the same.
  15. Yamazaki, Shunpei; Miyanaga, Akiharu; Koyama, Jun; Fukunaga, Takeshi, Thin film semiconductor device and its manufacturing method.
  16. DiMaria Donelli J. (Ossining NY) Kotecha Harish N. (Manassas VA), Two carrier dual injector apparatus.
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